1. Manifestation of “Slow” Light in the Photocurrent Spectra of Ge/Si Quantum Dot Layers Combined with a Photonic Crystal

    Yakimov, A. I., Kirienko, V. V., Dvurechenskii, A. V. & Utkin, D. E., авг. 2023, в: JETP Letters. 118, 4, стр. 244-248 5 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  2. Mathematical Modeling of Charge Transport in the Dielectric Layer of a HfOx Memristor Taking into Account Single Charged Traps

    Islamov, D. R., Zalyalov, T. M., Voronkovskii, V. A., Markelova, A. K., Pil’nik, A. A., Perevalov, T. V., Davydov, M. N. & Chernov, A. A., дек. 2025, в: Russian Microelectronics. 54, 8, стр. 922-928 7 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  3. Mechanism of CaSi2 Synthesis Under the Electron-Beam Irradiation During Molecular-Beam Epitaxy of CaF2 on Si(111)

    Wang, Y., Kacyuba, A. V., Kamaev, G. N., Zinovieva, A. F., Zinovyev, V. A. & Dvurechenskii, A. V., 9 янв. 2026, в: Silicon. 6 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  4. Mechanism of charge transport of stress induced leakage current and trap nature in thermal oxide on silicon

    Islamov, D. R., Gritsenko, V. A., Perevalov, T. V., Orlov, O. M. & Krasnikov, G. Y., 15 авг. 2017, в: Journal of Physics: Conference Series. 864, 1, 4 стр., 012003.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья по материалам конференции › Рецензирование

  5. Mechanism of Transverse Charge Transfer in Thin Films of Hexagonal Boron Nitride

    Islamov, D. R., Perevalov, T. V., Gismatulin, A. A., Azarov, I. A., Spesivtsev, E. V. & Gritsenko, V. A., мар. 2023, в: Journal of Experimental and Theoretical Physics. 136, 3, стр. 345-352 8 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  6. Mesoscopic Conductance Fluctuations in 2D HgTe Semimetal

    Khudaiberdiev, D., Kvon, Z. D., Entin, M. V., Kozlov, D. A., Mikhailov, N. N. & Ryzhkov, M., 31 окт. 2023, в: Nanomaterials. 13, 21, 2882.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  7. Mesoscopic transport in two-dimensional topological insulators

    Gusev, G. M., Kvon, Z. D., Olshanetsky, E. B. & Mikhailov, N. N., 1 нояб. 2019, в: Solid State Communications. 302, 10 стр., 113701.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › обзорная статья › Рецензирование

  8. Microwave-Induced Magneto-Intersubband Scattering in a Square Lattice of Antidots

    Bykov, A. A., Strygin, I. S., Goran, A. V., Rodyakina, E. E., Nomokonov, D. V., Marchishin, I. V., Abedi, S. & Vitkalov, S. A., 1 нояб. 2019, в: JETP Letters. 110, 10, стр. 672-676 5 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  9. Microwave Photoconductivity of Gapless Dirac Fermions in HgTe Quantum Wells

    Kuzmin, N. S., Jaroshevich, A. S., Braginskii, L. S., Entin, M. V., Kvon, Z. D. & Mikhailov, N. N., июн. 2024, в: JETP Letters. 119, 12, стр. 950-956 7 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  10. Microwave Photoresistance of a Two-Dimensional Topological Insulator in a HgTe Quantum Well

    Yaroshevich, A. S., Kvon, Z. D., Gusev, G. M. & Mikhailov, N. N., янв. 2020, в: JETP Letters. 111, 2, стр. 121-125 5 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

ID: 3084764