Oxygen polyvacancy in anatas as a filament: First principle investigation

Perevalov, T. V. & Islamov, D. R., 15 авг. 2017, в: Journal of Physics: Conference Series. 864, 1, 4 стр., 012084.

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья по материалам конференции › Рецензирование

Light-emitting Si nanostructures formed by swift heavy ions in a-Si:H/SiO2 multilayer heterostructures

Cherkova, S. G., Volodin, V. A., Cherkov, A. G., Antonenko, A. K., Kamaev, G. N. & Skuratov, V. A., 1 авг. 2017, в: Materials Research Express. 4, 8, 7 стр., 085001.

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Ge nanocrystals formed by furnace annealing of Ge_(x)[SiO₂]_(1-x) films: Structure and optical properties

Volodin, V. A., Cherkov, A. G., Antonenko, A. K., Stoffel, M., Rinnert, H. & Vergnat, M., 1 июл. 2017, в: Materials Research Express. 4, 7, 9 стр., 075010.

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Synthesis of basic bismuth(III) oxalate by precipitation from nitrate solutions

Timakova, E. V., Afonina, L. I., Bulina, N. V., Shatskaya, S. S., Yukhin, Y. M. & Volodin, V. A., 1 июл. 2017, в: Russian Journal of Applied Chemistry. 90, 7, стр. 1040-1046 7 стр.

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Atomic and electronic structure of oxygen polyvacancies in ZrO₂

Perevalov, T. V. & Islamov, D. R., 25 июн. 2017, в: Microelectronic Engineering. 178, стр. 275-278 4 стр.

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Determination of trap density in hafnia films produced by two atomic layer deposition techniques

Islamov, D. R., Gritsenko, V. A. & Lebedev, M. S., 25 июн. 2017, в: Microelectronic Engineering. 178, стр. 104-107 4 стр.

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Electron emission from Cs/GaAs and GaAs(Cs, О) with positive and negative electron affinity

Zhuravlev, A. G., Khoroshilov, V. S. & Alperovich, V. L., 1 мая 2017, в: JETP Letters. 105, 10, стр. 686-690 5 стр.

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

A room-temperature-operated Si LED with β-FeSi₂ nanocrystals in the active layer: μW emission power at 1.5 μm

Shevlyagin, A. V., Goroshko, D. L., Chusovitin, E. A., Balagan, S. A., Dotcenko, S. A., Galkin, K. N., Galkin, N. G., Shamirzaev, T. S., Gutakovskii, A. K., Latyshev, A. V., Iinuma, M. & Terai, Y., 21 мар. 2017, в: Journal of Applied Physics. 121, 11, 9 стр., 113101.

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Charge transport in thin hafnium and zirconium oxide films

Islamov, D. R., Gritsenko, V. A. & Chin, A., 1 мар. 2017, в: Optoelectronics, Instrumentation and Data Processing. 53, 2, стр. 184-189 6 стр.

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Detection of suspicious objects on the basis of analysis of human X-ray images

Svitov, D. V., Kulikov, V. A. & Kosykh, V. P., 1 мар. 2017, в: Optoelectronics, Instrumentation and Data Processing. 53, 2, стр. 159-164 6 стр.

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование