Measurement of branching fraction of Ds∗+ → Ds+ π0 relative to Ds∗+ → Ds+ γ

The BESIII Collaboration & Мучной, Н. Ю., 1 февр. 2023, в: Physical Review D. 107, 3, 9 стр., 032011.

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Measurement of the CP -even fraction of D0 →k+K-π+π-

The BESIII Collaboration & Мучной, Н. Ю., 1 февр. 2023, в: Physical Review D. 107, 3, 12 стр., 032009.

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Measurement of the e+e- →π+π-J /ψ cross section in the vicinity of 3.872 GeV

The BESIII Collaboration, Мучной, Н. Ю. & Николаев, И. Б., 1 февр. 2023, в: Physical Review D. 107, 3, 10 стр., 032007.

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Measurements of the branching fractions of the inclusive decays D0 (D+) →π+π+π-X

The BESIII Collaboration, Мучной, Н. Ю. & Николаев, И. Б., 1 февр. 2023, в: Physical Review D. 107, 3, 15 стр., 032002.

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Quantum states in disordered media. II. Spatial charge carrier distribution

Nenashev, A. V., Baranovskii, S. D., Meerholz, K. & Gebhard, F., 1 февр. 2023, в: Physical Review B. 107, 6, 23 стр., 064207.

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Stability of graphene film on copper, silicon, and glass substrates in contact with boiling water

Смовж, Д. В., Сахаров, С. З., Андрющенко, В. А., Сорокин, Д. В., Бетке, И. А., Комлина, С. В., Старинский, С. В. & Максимовский, Е. А., 1 февр. 2023, в: Interfacial Phenomena and Heat Transfer. 11, 2, стр. 1-11 11 стр.

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Validation and optimization of the epithermal neutron flux detector using the 71Ga(n,γ)72Ga reaction

Byambatseren, E., Burdakov, A., Bykov, T., Kasatov, D., Kolesnikov, I., Savinov, S., Sycheva, T. & Taskaev, S., 1 февр. 2023, в: Journal of Instrumentation. 18, 2, стр. 18 2 стр., P02020.

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Characterization of Structure, Morphology, Optical and Electrical Properties of AlN–Al–V Multilayer Thin Films Fabricated by Reactive DC Magnetron Sputtering

Миронова, М. И., Капишников, А. В., Хамуд, Г., Володин, В. А., Азаров, И. А., Юшков, И. Д., Камаев, Г. Н., Супрун, Е., Chirikov, N., Davletkildeev, N. A., Baidakov, A. N., Kovivchak, V. S., Baranova, L. V., Струнин, В. И. & Гейдт, П. В., февр. 2023, в: Coatings. 13, 2, 223.

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Charge Transport Mechanism in the Forming-Free Memristor Based on PECVD Silicon Oxynitride

Gismatulin, A. A., Kamaev, G. N., Volodin, V. A. & Gritsenko, V. A., февр. 2023, в: Electronics (Switzerland). 12, 3, 598.

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Corrigendum to “Fabrication of polycrystalline silicon thin films by gold-induced crystallization of amorphous silicon suboxide” [Vacuum 192 (2021) 110462](S0042207X21004127)(10.1016/j.vacuum.2021.110462)

Zamchiy, A. O., Baranov, E. A., Starinskiy, S. V., Lunev, N. A. & Merkulova, I. E., февр. 2023, в: Vacuum. 208, 111713.

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › комментарий, выступление › Рецензирование