Research output: Contribution to journal › Article › peer-review
Учет эксцентриситета поликристаллического образца при съемке в схеме Дебая-Шеррера. Аттестация нового рентгенографического эталона Y2O3. / Иванова, Ю.А.; Кудрявцев, А.Л.; Серебренникова, П.C. et al.
In: Журнал структурной химии, Vol. 66, No. 10, 2025, p. 154688.Research output: Contribution to journal › Article › peer-review
}
TY - JOUR
T1 - Учет эксцентриситета поликристаллического образца при съемке в схеме Дебая-Шеррера. Аттестация нового рентгенографического эталона Y2O3
AU - Иванова, Ю.А.
AU - Кудрявцев, А.Л.
AU - Серебренникова, П.C.
AU - Громилов, С.А.
N1 - Учет эксцентриситета поликристаллического образца при съемке в схеме Дебая - Шеррера. Аттестация нового рентгенографического эталона Y2O3 / Ю. А. Иванова, А. Л. Кудрявцев, П. С. Серебренникова, С. А. Громилов // Журнал структурной химии. – 2025. – Т. 66, № 10. – С. 154688. – DOI 10.26902/JSC_id154688. – EDN UXSPWY. Исследование выполнено при финансовой поддержке Российского научного фонда и Правительства Новосибирской области (проект № 24-22-20017, https://rscf.ru/project/24-22-20017/).
PY - 2025
Y1 - 2025
N2 - Рассмотрены вопросы, касающиеся оптимизации проведения калибровки современных дифрактометров, оснащенных 2D-детектором, с помощью эталонных монокристаллов. Показано, что точность измерений ПЭЯ поликристаллических образцов в схеме Дебая-Шеррера можно повысить за счет учета эксцентриситета. Тестирование методики проведено на поликристаллическом образце CeO2 – SRM674b, полученное значение параметра элементарной кубической ячейки а = 5.4117(2) Å отличается от эталонного на 0.0002 Å, что соответствует абсолютной погрешности проведенного эксперимента. Проведена рентгенографическая аттестация перспективного рентгенографического эталона Y2O3 (ТУ 48-4-524-90, марка ИтО-В, чистота 99.999 %), значение параметра элементарной кубической ячейки а = 10.6047(3) Å.
AB - Рассмотрены вопросы, касающиеся оптимизации проведения калибровки современных дифрактометров, оснащенных 2D-детектором, с помощью эталонных монокристаллов. Показано, что точность измерений ПЭЯ поликристаллических образцов в схеме Дебая-Шеррера можно повысить за счет учета эксцентриситета. Тестирование методики проведено на поликристаллическом образце CeO2 – SRM674b, полученное значение параметра элементарной кубической ячейки а = 5.4117(2) Å отличается от эталонного на 0.0002 Å, что соответствует абсолютной погрешности проведенного эксперимента. Проведена рентгенографическая аттестация перспективного рентгенографического эталона Y2O3 (ТУ 48-4-524-90, марка ИтО-В, чистота 99.999 %), значение параметра элементарной кубической ячейки а = 10.6047(3) Å.
KW - рентгеновская дифрактометрия
KW - двумерный детектор
KW - калибровка
KW - малые кристаллы
KW - параметры элементарной ячейки
KW - точность
KW - эталон
KW - эксцентриситет
KW - XRD
KW - area detector
KW - calibration
KW - small crystals
KW - unit cell parameters
KW - accuracy
KW - reference
KW - eccentricity
UR - https://www.mendeley.com/catalogue/ecd9927c-de83-3cce-8d37-27f57d402240/
UR - https://elibrary.ru/item.asp?id=83134053
UR - https://jsc.niic.nsc.ru/article/154688/
U2 - 10.26902/jsc_id154688
DO - 10.26902/jsc_id154688
M3 - статья
VL - 66
SP - 154688
JO - Журнал структурной химии
JF - Журнал структурной химии
SN - 0136-7463
IS - 10
ER -
ID: 76313343