Программа для моделирования спектров пропускания и отражения слоистых структур на толстой подложке с учётом интерференции в слоях

Standard

Программа для моделирования спектров пропускания и отражения слоистых структур на толстой подложке с учётом интерференции в слоях. / Егоров, Дмитрий Александрович (Author); Азаров, Иван Алексеевич (Author); Володин, Владимир Алексеевич (Author).

Роспатент - Федеральная служба по интеллектуальной собственности. Patent No.: 2022668094. Oct 04, 2022.

Research output: Patent › Software registration

BibTeX

@misc{43d83e10804144b9bdf4496f29925972,

title = "Программа для моделирования спектров пропускания и отражения слоистых структур на толстой подложке с учётом интерференции в слоях",

abstract = "Программа предназначена для определения толщины слоя и дисперсии его комплексного показателя преломления из аппроксимации рассчитанных данных к экспериментальным данным пропускания и отражения света. Программа позволяет работать со слоистой структурой, содержащей до десяти слоёв, при этом должны быть известны толщины и оптические константы всех слоёв, за исключением одного, параметры которого нужно определить. Интерференция учитывается в слоях, но не учитывается в толстой подложке. Программа может быть использована для определения края поглощения плёнок. Разработка выполнена на базе оборудования ЦКП {"}ВТАН{"} НГУ.",

keywords = "ПЛЁНКИ, ИНТЕРФЕРЕНЦИЯ, ПРОПУСКАНИЕ, ОТРАЖЕНИЕ",

author = "Егоров, {Дмитрий Александрович} and Азаров, {Иван Алексеевич} and Володин, {Владимир Алексеевич}",

year = "2022",

month = oct,

day = "4",

language = "русский",

publisher = "Роспатент - Федеральная служба по интеллектуальной собственности",

type = "Patent",

note = "2022668094",

}

RIS

TY - PAT

T1 - Программа для моделирования спектров пропускания и отражения слоистых структур на толстой подложке с учётом интерференции в слоях

AU - Егоров, Дмитрий Александрович

AU - Азаров, Иван Алексеевич

AU - Володин, Владимир Алексеевич

PY - 2022/10/4

Y1 - 2022/10/4

N2 - Программа предназначена для определения толщины слоя и дисперсии его комплексного показателя преломления из аппроксимации рассчитанных данных к экспериментальным данным пропускания и отражения света. Программа позволяет работать со слоистой структурой, содержащей до десяти слоёв, при этом должны быть известны толщины и оптические константы всех слоёв, за исключением одного, параметры которого нужно определить. Интерференция учитывается в слоях, но не учитывается в толстой подложке. Программа может быть использована для определения края поглощения плёнок. Разработка выполнена на базе оборудования ЦКП "ВТАН" НГУ.

AB - Программа предназначена для определения толщины слоя и дисперсии его комплексного показателя преломления из аппроксимации рассчитанных данных к экспериментальным данным пропускания и отражения света. Программа позволяет работать со слоистой структурой, содержащей до десяти слоёв, при этом должны быть известны толщины и оптические константы всех слоёв, за исключением одного, параметры которого нужно определить. Интерференция учитывается в слоях, но не учитывается в толстой подложке. Программа может быть использована для определения края поглощения плёнок. Разработка выполнена на базе оборудования ЦКП "ВТАН" НГУ.

KW - ПЛЁНКИ

KW - ИНТЕРФЕРЕНЦИЯ

KW - ПРОПУСКАНИЕ

KW - ОТРАЖЕНИЕ

M3 - свидетельство о регистрации программы для ЭВМ

M1 - 2022668094

PB - Роспатент - Федеральная служба по интеллектуальной собственности

ER -

ID: 41364753