DOI

Язык оригиналаанглийский
Название основной публикацииEUV and X-ray Optics, Sources, and Instrumentation
РедакторыRene Hudec, Ladislav Pina, Thomas Tschentscher, Libor Juha, Luc Patthey, Kai Tiedtke, Marco Zangrando, Sasa Bajt, Stephane Guizard
ИздательThe International Society for Optical Engineering
Страницы12
ISBN (электронное издание)9781510643864
ISBN (печатное издание)9781510643864
DOI
СостояниеОпубликовано - 2021
СобытиеEUV and X-ray Optics, Sources, and Instrumentation 2021 - Virtual, Online, Чехия
Продолжительность: 19 апр. 2021 → 23 апр. 2021

Серия публикаций

НазваниеProceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
Том11776
ISSN (печатное издание)0277-786X
ISSN (электронное издание)1996-756X

Конференция

КонференцияEUV and X-ray Optics, Sources, and Instrumentation 2021
Страна/TерриторияЧехия
ГородVirtual, Online
Период19.04.2021 → 23.04.2021

    Предметные области OECD FOS+WOS

  • 1.03 ФИЗИЧЕСКИЕ НАУКИ И АСТРОНОМИЯ
  • 1.03.SY ОПТИКА
  • 1.03.UK ФИЗИКА КОНДЕНСИРОВАННОГО СОСТОЯНИЯ

ID: 29137990