DOI

Язык оригиналаанглийский
Название основной публикацииApplied Optical Metrology IV
РедакторыErik Novak, James D. Trolinger, Christopher C. Wilcox
ИздательSPIE
ISBN (электронное издание)9781510644724
DOI
СостояниеОпубликовано - 2021
СобытиеApplied Optical Metrology IV 2021 - San Diego, Соединенные Штаты Америки
Продолжительность: 1 авг. 20215 авг. 2021

Серия публикаций

НазваниеProceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
Том11817
ISSN (печатное издание)0277-786X
ISSN (электронное издание)1996-756X

Конференция

КонференцияApplied Optical Metrology IV 2021
Страна/TерриторияСоединенные Штаты Америки
ГородSan Diego
Период01.08.202105.08.2021

    Предметные области OECD FOS+WOS

  • 1.03 ФИЗИЧЕСКИЕ НАУКИ И АСТРОНОМИЯ

ID: 34339507