Development of a Comprehensive Methodology for Assessing Executive Control Measures and Its Validation on Groups of Russian and Foreign Students

Zorina, K. A., Bodur, V. D., Tolstova, M. A. & Vergunov, E. G., 8 авг. 2025, International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices, EDM. IEEE Computer Society, стр. 1800-1804 5 стр. (International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices, EDM).

Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › статья в сборнике материалов конференции › научная › Рецензирование

Development of a Microprocessor Quadrotor Control System

Khodatovich, E. & Kotov, K., 8 авг. 2025, International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices, EDM. IEEE Computer Society, стр. 1190-1195 6 стр. (International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices, EDM).

Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › статья в сборнике материалов конференции › научная › Рецензирование

Development of a Neurolinguistic Testing Technique to Identify Brain Self-Referential Processes

Zlaia, S., Istomina, N., Stepanova, V., Savostyanov, V. & Tamozhnikov, S., 8 авг. 2025, International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices, EDM. IEEE Computer Society, стр. 1840-1843 4 стр. (International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices, EDM).

Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › статья в сборнике материалов конференции › научная › Рецензирование

Development of a Personalized Recommendation System with High Data Protection

Palchunova, O., 8 авг. 2025, International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices, EDM. IEEE Computer Society, стр. 1830-1833 4 стр. (International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices, EDM).

Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › статья в сборнике материалов конференции › научная › Рецензирование

Jet Streams Upon Impact on Joints of Structural Materials

Khalemenchuk, V., Artur, A., Rubtsov, I., Ten, K., Tumanik, A. & Kashkarov, A., 8 авг. 2025, International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices, EDM. IEEE Computer Society, стр. 630-634 5 стр. (International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices, EDM).

Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › статья в сборнике материалов конференции › научная › Рецензирование

Kinetic Study of Ge Nanocluster Formation in Composite GeOx[SiO2] Films

Kislukhin, N. A., Astankova, K. N. & Volodin, V. A., 8 авг. 2025, International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices, EDM. IEEE Computer Society, стр. 120-124 5 стр. (International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices, EDM).

Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › статья в сборнике материалов конференции › научная › Рецензирование

Methods of Automatic Selection of Named Entities (NER) in Uzbek Language for Text Tone Analysis

Saidov, B. R., Barakhnin, V. B., Rixsibayev, U. T., Sobirov, O. O., Bekchanov, K. M. & Sharipov, E. J., 8 авг. 2025, International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices, EDM. IEEE Computer Society, стр. 1740-1745 6 стр. (International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices, EDM).

Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › статья в сборнике материалов конференции › научная › Рецензирование

Prediction of Anxiety Levels Based on Spatial-Frequency Patterns of EEG Activity During Perception of Another Person's Face

Lozhnikov, V., 8 авг. 2025, International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices, EDM. IEEE Computer Society, стр. 1850-1853 4 стр. (International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices, EDM).

Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › статья в сборнике материалов конференции › научная › Рецензирование

Semi-Automated Framework for Feature Engineering in Machine Learning and Data Analysis

Radeev, N. & Vinogradova, K., 8 авг. 2025, International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices, EDM. IEEE Computer Society, стр. 1520-1525 6 стр. (International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices, EDM).

Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › статья в сборнике материалов конференции › научная › Рецензирование