1431 - 1440 из 29 352Размер страницы: 10
Сортировать по:: Год публикации
  1. 2025

  2. Development of a Neurolinguistic Testing Technique to Identify Brain Self-Referential Processes

    Zlaia, S., Istomina, N., Stepanova, V., Savostyanov, V. & Tamozhnikov, S., 8 авг. 2025, International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices, EDM. IEEE Computer Society, стр. 1840-1843 4 стр. (International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices, EDM).

    Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › статья в сборнике материалов конференции › научная › Рецензирование

  3. Development of a Personalized Recommendation System with High Data Protection

    Palchunova, O., 8 авг. 2025, International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices, EDM. IEEE Computer Society, стр. 1830-1833 4 стр. (International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices, EDM).

    Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › статья в сборнике материалов конференции › научная › Рецензирование

  4. First observation of Λc(2595)+ → $$ {\Lambda}_c^{+}{\pi}^0{\pi}^0 $$ and Λc(2625)+ → $$ {\Lambda}_c^{+}{\pi}^0{\pi}^0 $$

    The BESIII Collaboration & Мучной, Н. Ю., 8 авг. 2025, в: Journal of High Energy Physics. 2025, 8, 65.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  5. Jet Streams Upon Impact on Joints of Structural Materials

    Khalemenchuk, V., Artur, A., Rubtsov, I., Ten, K., Tumanik, A. & Kashkarov, A., 8 авг. 2025, International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices, EDM. IEEE Computer Society, стр. 630-634 5 стр. (International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices, EDM).

    Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › статья в сборнике материалов конференции › научная › Рецензирование

  6. Kinetic Study of Ge Nanocluster Formation in Composite GeOx[SiO2] Films

    Kislukhin, N. A., Astankova, K. N. & Volodin, V. A., 8 авг. 2025, International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices, EDM. IEEE Computer Society, стр. 120-124 5 стр. (International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices, EDM).

    Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › статья в сборнике материалов конференции › научная › Рецензирование

  7. Methods of Automatic Selection of Named Entities (NER) in Uzbek Language for Text Tone Analysis

    Saidov, B. R., Barakhnin, V. B., Rixsibayev, U. T., Sobirov, O. O., Bekchanov, K. M. & Sharipov, E. J., 8 авг. 2025, International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices, EDM. IEEE Computer Society, стр. 1740-1745 6 стр. (International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices, EDM).

    Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › статья в сборнике материалов конференции › научная › Рецензирование

  8. Prediction of Anxiety Levels Based on Spatial-Frequency Patterns of EEG Activity During Perception of Another Person's Face

    Lozhnikov, V., 8 авг. 2025, International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices, EDM. IEEE Computer Society, стр. 1850-1853 4 стр. (International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices, EDM).

    Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › статья в сборнике материалов конференции › научная › Рецензирование

  9. Search for a Neutral Gauge Boson with Nonuniversal Fermion Couplings in Vector Boson Fusion Processes in Proton-Proton Collisions at sqrt[s]=13  TeV

    The CMS collaboration & Сковпень, Ю. И., 8 авг. 2025, в: Physical Review Letters. 135, 6, 22 стр., 061803.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  10. Semi-Automated Framework for Feature Engineering in Machine Learning and Data Analysis

    Radeev, N. & Vinogradova, K., 8 авг. 2025, International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices, EDM. IEEE Computer Society, стр. 1520-1525 6 стр. (International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices, EDM).

    Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › статья в сборнике материалов конференции › научная › Рецензирование

  11. Structural Transformation of Bi2Se3(001) Surface during Sn Monolayer Annealing

    Zakhozhev, K., Ponomarev, S., Golyashov, V., Nasimov, D., Kokh, K. & Rogilo, D., 8 авг. 2025, International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices, EDM. IEEE Computer Society, стр. 80-83 4 стр. (International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices, EDM).

    Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › статья в сборнике материалов конференции › научная › Рецензирование

Назад 1...140 141 142 143 144 145 146 147 ...2936 Далее