DOI

Переведенное названиеМультимодальная интеграция ЭЭГ и генетических маркеров для прогнозирования депрессии на основе базы данных ICBrainDB
Язык оригиналаанглийский
Название основной публикации2025 IEEE XVII International Scientific and Technical Conference on Actual Problems of Electronic Instrument Engineering (APEIE)
ИздательInstitute of Electrical and Electronics Engineers Inc.
Страницы1-9
Число страниц9
ISBN (электронное издание)979-8-3315-5916-8
ISBN (печатное издание)979-8-3315-5917-5
DOI
СостояниеОпубликовано - 18 дек. 2025
Событие2025 IEEE XVII International Scientific and Technical Conference on Actual Problems of Electronic Instrument Engineering - Novosibirsk, Russian Federation, Новосибирск, Российская Федерация
Продолжительность: 14 нояб. 2025 → 16 нояб. 2025
Номер конференции: 17

Конференция

Конференция2025 IEEE XVII International Scientific and Technical Conference on Actual Problems of Electronic Instrument Engineering
Сокращенное названиеAPEIE
Страна/TерриторияРоссийская Федерация
ГородНовосибирск
Период14.11.2025 → 16.11.2025

    Предметные области OECD FOS+WOS

  • 1.02.EV ИНФОРМАТИКА, МЕЖДИСЦИПЛИНАРНЫЕ ПРИМЕНЕНИЯ

    Области исследований

  • электроэнцефалография, генетические биомаркеры, мультимодальная интеграция, прогнозирование депрессии, трансформер, модели внимания

ID: 75600742