DOI

Переведенное названиеRSL AND ODMR SPECTROSCOPY OF NV CENTERS IN ⟨111⟩ DIAMOND NANOLAYERS AND PILLARS AFTER THE IMPACT OF A GA+ FOCUSED ION BEAM
Язык оригиналарусский
Страницы (с-по)23-32
Число страниц10
ЖурналАвтометрия
Том59
Номер выпуска6
DOI
СостояниеОпубликовано - 2023

    Предметные области OECD FOS+WOS

  • 2.11 ПРОЧИЕ ТЕХНОЛОГИИ

    Области исследований

  • Искусственный алмаз, Наноструктуры с центрами NV, Оптическое детектирование магнтитных резонансов, Комбинационное рассеяние света

ID: 71985812