Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › статья в сборнике материалов конференции › научная › Рецензирование
ИК Фурье-спектроскопия наногетероструктур на основе GeSiSn/Si для устройств фотоники. / Фирсов, Дмитрий; Коляда; Чуманов, И и др.
XVI Российская конференция по физике полупроводников (XVI РКФП) Санкт-Петербург, 07–11 октября 2024 года. 2024. стр. 131.Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › статья в сборнике материалов конференции › научная › Рецензирование
}
TY - GEN
T1 - ИК Фурье-спектроскопия наногетероструктур на основе GeSiSn/Si для устройств фотоники
AU - Фирсов, Дмитрий
AU - Коляда,
AU - Чуманов, И
AU - Скворцов, Илья
AU - Utkin, Dmitry
AU - Кириенко, В.В.
AU - Машанов, Владимир
AU - Тимофеев, Вячеслав
AU - Комков, Олег
N1 - Conference code: 16
PY - 2024
Y1 - 2024
UR - https://semicond2024.ioffe.ru/media/filer_public/8e/d5/8ed5676c-c071-462d-a5b1-b659438fe90d/semicond2024_ba.pdf
M3 - статья в сборнике материалов конференции
SN - 978-5-93634-074-1
SP - 131
BT - XVI Российская конференция по физике полупроводников (XVI РКФП) Санкт-Петербург, 07–11 октября 2024 года
T2 - XVI Российская конференция по физике полупроводников
Y2 - 7 October 2024 through 11 October 2024
ER -
ID: 61297324