Современные методики сканирующей зондовой микроскопии для полупроводниковых наноматериалов

Standard

Современные методики сканирующей зондовой микроскопии для полупроводниковых наноматериалов. / Гейдт, Павел Викторович.

сборник тезисов: Школы молодых ученых «Актуальные проблемы полупроводниковых наносистем». 2023.

Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › статья в сборнике материалов конференции › научная › Рецензирование

Harvard

Гейдт, ПВ 2023, Современные методики сканирующей зондовой микроскопии для полупроводниковых наноматериалов. в сборник тезисов: Школы молодых ученых «Актуальные проблемы полупроводниковых наносистем». Школы молодых ученых
«Актуальные проблемы полупроводниковых
наносистем», Новосибирск, Российская Федерация, 29.11.2023.

BibTeX

@inproceedings{468b559e935b41a2ad8a8faa9d7e081d,

title = "Современные методики сканирующей зондовой микроскопии для полупроводниковых наноматериалов",

author = "Гейдт, {Павел Викторович}",

year = "2023",

language = "русский",

booktitle = "сборник тезисов: Школы молодых ученых «Актуальные проблемы полупроводниковых наносистем»",

note = "Школы молодых ученых<br/>«Актуальные проблемы полупроводниковых<br/>наносистем» ; Conference date: 29-11-2023 Through 30-11-2023",

}

RIS

TY - GEN

T1 - Современные методики сканирующей зондовой микроскопии для полупроводниковых наноматериалов

AU - Гейдт, Павел Викторович

PY - 2023

Y1 - 2023

UR - https://elibrary.ru/download/elibrary_60025958_89870278.pdf

M3 - статья в сборнике материалов конференции

BT - сборник тезисов: Школы молодых ученых «Актуальные проблемы полупроводниковых наносистем»

T2 - Школы молодых ученых<br/>«Актуальные проблемы полупроводниковых<br/>наносистем»

Y2 - 29 November 2023 through 30 November 2023

ER -

ID: 59559587