Standard

Современные методики сканирующей зондовой микроскопии для полупроводниковых наноматериалов. / Гейдт, Павел Викторович.

сборник тезисов: Школы молодых ученых «Актуальные проблемы полупроводниковых наносистем». 2023.

Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › статья в сборнике материалов конференции › научная › Рецензирование

Harvard

Гейдт, ПВ 2023, Современные методики сканирующей зондовой микроскопии для полупроводниковых наноматериалов. в сборник тезисов: Школы молодых ученых «Актуальные проблемы полупроводниковых наносистем».

APA

Гейдт, П. В. (2023). Современные методики сканирующей зондовой микроскопии для полупроводниковых наноматериалов. в сборник тезисов: Школы молодых ученых «Актуальные проблемы полупроводниковых наносистем»

Vancouver

Гейдт ПВ. Современные методики сканирующей зондовой микроскопии для полупроводниковых наноматериалов. в сборник тезисов: Школы молодых ученых «Актуальные проблемы полупроводниковых наносистем». 2023

Author

Гейдт, Павел Викторович. / Современные методики сканирующей зондовой микроскопии для полупроводниковых наноматериалов. сборник тезисов: Школы молодых ученых «Актуальные проблемы полупроводниковых наносистем». 2023.

BibTeX

@inproceedings{468b559e935b41a2ad8a8faa9d7e081d,
title = "Современные методики сканирующей зондовой микроскопии для полупроводниковых наноматериалов",
author = "Гейдт, {Павел Викторович}",
year = "2023",
language = "русский",
booktitle = "сборник тезисов: Школы молодых ученых «Актуальные проблемы полупроводниковых наносистем»",

}

RIS

TY - GEN

T1 - Современные методики сканирующей зондовой микроскопии для полупроводниковых наноматериалов

AU - Гейдт, Павел Викторович

PY - 2023

Y1 - 2023

M3 - статья в сборнике материалов конференции

BT - сборник тезисов: Школы молодых ученых «Актуальные проблемы полупроводниковых наносистем»

ER -

ID: 59559587