1. 2024
  2. Surface morphology analysis of CdTe buffer layers using ellipsometry and interference profilometry to create a technique for monitoring the growth of buffer layers

    Shvets, V. A., Marin, D. V., Kuznetsova, L. S., Azarov, I. A., Yakushev, M. V. & Rykhlitskii, S. V., 20 июл. 2024, в: Journal of Optical Technology (A Translation of Opticheskii Zhurnal). 91, 2, стр. 91-95 5 стр., 6.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатьяРецензирование

  3. Methyl Methacrylate Copolymer with Pendant Thioxanthenone Groups as Active Layer for Resistive Memory Devices

    Odintsov, D. S., Gismatulin, A. A., Shundrina, I. K., Buktoyarova, A. D., Os'kina, I. A., Beckmann, J., Azarov, I. A., Dementeva, E. V., Shundrin, L. A. & Gritsenko, V. A., 4 нояб. 2024, в: ChemPhysChem. 25, 21, стр. e202400266 e202400266.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатьяРецензирование

Назад 1 2 3 4 5 Далее

ID: 12587340