1. 2017
  2. Polarization Pyrometry of Layered Semiconductor Structures under Conditions of Low-Temperature Technological Processes

    Azarov, I. A., Shvets, V. A., Dulin, S. A., Mikhailov, N. N., Dvoretskii, S. A., Ikusov, D. G., Uzhakov, I. N. & Rykhlitskii, S. V., 1 нояб. 2017, в: Optoelectronics, Instrumentation and Data Processing. 53, 6, стр. 630-638 9 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатьяРецензирование

Назад 1 2 3 Далее

ID: 3456539