1. 2024
  2. Surface morphology analysis of CdTe buffer layers using ellipsometry and interference profilometry to create a technique for monitoring the growth of buffer layers

    Shvets, V. A., Marin, D. V., Kuznetsova, L. S., Azarov, I. A., Yakushev, M. V. & Rykhlitskii, S. V., 20 июл. 2024, в: Journal of Optical Technology (A Translation of Opticheskii Zhurnal). 91, 2, стр. 91-95 5 стр., 6.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатьяРецензирование

Назад 1 2 3 Далее

ID: 3456539