21 - 22 из 22Размер страницы: 10
Сортировать по:: Год публикации
  1. 2024

  2. Surface morphology analysis of CdTe buffer layers using ellipsometry and interference profilometry to create a technique for monitoring the growth of buffer layers

    Shvets, V. A., Marin, D. V., Kuznetsova, L. S., Azarov, I. A., Yakushev, M. V. & Rykhlitskii, S. V., 20 июл. 2024, в: Journal of Optical Technology (A Translation of Opticheskii Zhurnal). 91, 2, стр. 91-95 5 стр., 6.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  3. 2025

  4. Chemically prepared tellurium layer on PbSnTe films: passivation and oxidation properties

    Akhundov, I. O., Ishchenko, D. V., Fedosenko, E. V., Golyashov, V. A., Shvets, V. A., Suprun, S. P., Kyrova, E. D., Mikaeva, A. S. & Tereshchenko, O. E., 15 авг. 2025, в: Surfaces and Interfaces. 71, 8 стр., 106887.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Назад 1 2 3 Далее

ID: 3456539