51 - 60 из 144Размер страницы: 10
Сортировать по:: Тип
  1. статья › научная › Прошло рецензирование

  2. Light-emitting defects formed in GeO/SiO2 heterostructures with assistance of swift heavy ions

    Cherkova, S. G., Volodin, V. A., Skuratov, V. A., Stoffel, M., Rinnert, H. & Vergnat, M., 1 мар. 2019, в: Journal of Luminescence. 207, стр. 209-212 4 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  3. Light-emitting Si nanostructures formed by swift heavy ions in a-Si:H/SiO2 multilayer heterostructures

    Cherkova, S. G., Volodin, V. A., Cherkov, A. G., Antonenko, A. K., Kamaev, G. N. & Skuratov, V. A., 1 авг. 2017, в: Materials Research Express. 4, 8, 7 стр., 085001.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  4. Local anodic oxidation of solid GeO films: The nanopatterning possibilities

    Astankova, K. N., Gorokhov, E. B., Azarov, I. A., Volodin, V. A. & Latyshev, A. V., 1 мар. 2017, в: Surfaces and Interfaces. 6, стр. 56-59 4 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  5. Localization of Optical Phonons in Diamond Nanocrystals

    Sachkov, V. A. & Volodin, V. A., 1 нояб. 2019, в: Journal of Experimental and Theoretical Physics. 129, 5, стр. 816-824 9 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  6. Local Oscillations of Silicon–Silicon Bonds in Silicon Nitride

    Volodin, V. A., Gritsenko, V. A. & Chin, A., 1 мая 2018, в: Technical Physics Letters. 44, 5, стр. 424-427 4 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  7. Luminescence Properties of FZ Silicon Irradiated with Swift Heavy Ions

    Cherkova, S. G., Skuratov, V. A. & Volodin, V. A., 6 нояб. 2019, в: Semiconductors. 53, 11, стр. 1427-1430 4 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  8. Memristor effect in GeO[SiO2] and GeO[SiO] solid alloys films

    Volodin, V. A., Kamaev, G. N., Gritsenko, V. A., Gismatulin, A. A., Chin, A. & Vergnat, M., 10 июн. 2019, в: Applied Physics Letters. 114, 23, 5 стр., 233104.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  9. Memristors Based on GeSixOy Glass Films on p+-Si Substrate

    Volodin, V. A., Yushkov, I. D., Kamaev, G. N. & Vergnat, M., дек. 2023, в: Russian Microelectronics. 52, Suppl 1, стр. S30-S37 8 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  10. Memristors Based on Many-Layer Non-Stoichiometric Germanosilicate Glass Films

    Yushkov, I. D., Yin, L., Kamaev, G. N., Prosvirin, I. P., Geydt, P. V., Vergnat, M. & Volodin, V. A., февр. 2023, в: Electronics (Switzerland). 12, 4, 873.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  11. Nanoscale potential fluctuations in nonstoichiometrics tantalum oxide

    Gritsenko, V. A., Volodin, V. A., Perevalov, T. V., Kruchinin, V. N., Gerasimova, A. K., Aliev, V. S. & Prosvirin, I. P., 15 авг. 2018, в: Nanotechnology. 29, 42, 9 стр., 425202.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Назад 12 3 4 5 6 7 8 9 ...15 Далее

ID: 3443008