31 - 35 из 35Размер страницы: 10
Сортировать по:: Год публикации
  1. 2025

  2. Атомная и электронная структура дефектных комплексов Ni и вакансий кислорода в HfO2 и их влияние на транспорт заряда в мемристорах

    Перевалов, Т. В., Исламов, Д. Р. & Чернов, А. А., 2025, в: Журнал экспериментальной и теоретической физики. 168, 6, стр. 882-889

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  3. Atomic and Electronic Structure of Defect Ni Complexes and Oxygen Vacancies in HfO2 and Their Influence on Charge Transport in Memristors

    Perevalov, T. V., Islamov, D. R. & Chernov, A. A., сент. 2025, в: Journal of Experimental and Theoretical Physics. 141, 1-3, стр. 113-119 7 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  4. Dynamics of the growth of a gas bubble in a magmatic melt during its decompression: the effect of barodiffusion

    Чернов, А. А., Давыдов, М. Н. & Ерманюк, Е. В., 10 сент. 2025, в: Journal of Fluid Mechanics. 1018

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  5. Mathematical Modeling of Charge Transport in the Dielectric Layer of a HfOx Memristor Taking into Account Single Charged Traps

    Islamov, D. R., Zalyalov, T. M., Voronkovskii, V. A., Markelova, A. K., Pil’nik, A. A., Perevalov, T. V., Davydov, M. N. & Chernov, A. A., дек. 2025, в: Russian Microelectronics. 54, 8, стр. 922-928 7 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  6. 2026

  7. The start of the nucleation process in heated composite droplets: A semi-analytical model

    Chernov, A. A., Antonov, D. V., Strizhak, P. A. & Sazhin, S. S., 1 июн. 2026, в: International Journal of Heat and Mass Transfer. 260, 10 стр., 128405.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Назад 1 2 3 4 Далее

ID: 3450400