21 - 25 из 25Размер страницы: 10
Сортировать по:: Год публикации
  1. 2025

  2. X-Ray Certification of Si, Ge, LaB6, and InSb Single Crystals

    Serebrennikova, P. S. & Gromilov, S. A., июл. 2025, в: Journal of Structural Chemistry. 66, 7, стр. 1527-1536 10 стр., 15.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  3. Tb2O3: Synthesis, Single Crystal X-Ray Diffraction Analysis, Thermal Expansion in the Range of 90-490 K

    Serebrennikova, P. S., Sukhikh, A. S., Naumov, N. G. & Gromilov, S. A., 9 окт. 2025, в: Journal of Structural Chemistry. 66, 9, стр. 1894-1902 9 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  4. Investigation of the homogeneity of BGO single crystals, a promising X-ray diffraction standard

    Serebrennikova, P. S., Shlegel, V. N. & Gromilov, S. A., 4 нояб. 2025, в: CrystEngComm.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  5. Accounting the Eccentricity of a Polycrystalline Sample in the Debye–Scherrer Scheme. Certification of a New Y2O3 XRD Standards

    Ivanova, Y. A., Kudryavtsev, A. L., Serebrennikova, P. S. & Gromilov, S. A., 8 нояб. 2025, в: Journal of Structural Chemistry. 66, 10, стр. 2225-2238 14 стр., 20.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  6. 2026

  7. Способ измерения параметров элементарной ячейки кристаллов на установках, использующих 2D-детекторы

    Громилов, С. А. & Серебренникова, П. С., 3 мар. 2026, Роспатент - Федеральная служба по интеллектуальной собственности, Патент/Св-во № 2857482, 14 окт. 2025, Дата приоритета 14 окт. 2025, № приоритета 2025128042

    Результаты исследований: Патенты/Свидетельства о регистрации › патент на изобретение

Назад 1 2 3 Далее

ID: 3517447