Conduction mechanisms of TaN/HfO _x /Ni memristors

Voronkovskii, V. A., Aliev, V. S., Gerasimova, A. K. & Islamov, D. R., 5 апр. 2019, в: Materials Research Express. 6, 7, 7 стр., 076411.

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Evolution of Micropits on Large Terraces of the Si(111) Surface during High-Temperature Annealing

Petrov, A. S., Sitnikov, S. V., Kosolobov, S. S. & Latyshev, A. V., 1 апр. 2019, в: Semiconductors. 53, 4, стр. 434-438 5 стр.

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Electron spatial localization tuned by strain in Ge/Si quantum dot heterostructures

Zinovieva, A. F., Zinovyev, V. A., Nenashev, A. V., Kulik, L. V. & Dvurechenskii, A. V., 22 мар. 2019, в: Physical Review B. 99, 11, 9 стр., 115314.

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Superradiant and transport lifetimes of the cyclotron resonance in the topological insulator HgTe

Gospodarič, J., Dziom, V., Shuvaev, A., Dobretsova, A. A., Mikhailov, N. N., Kvon, Z. D. & Pimenov, A., 20 мар. 2019, в: Physical Review B. 99, 11, 5 стр., 115130.

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Dirac gap opening and Dirac-fermion-mediated magnetic coupling in antiferromagnetic Gd-doped topological insulators and their manipulation by synchrotron radiation

Shikin, A. M., Estyunin, D. A., Surnin, Y. I., Koroleva, A. V., Shevchenko, E. V., Kokh, K. A., Tereshchenko, O. E., Kumar, S., Schwier, E. F., Shimada, K., Yoshikawa, T., Saitoh, Y., Takeda, Y. & Kimura, A., 18 мар. 2019, в: Scientific Reports. 9, 1, стр. 4813 17 стр., 4813.

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Identification of the nature of traps involved in the field cycling of Hf_0.5Zr_0.5O₂-based ferroelectric thin films

Islamov, D. R., Gritsenko, V. A., Perevalov, T. V., Pustovarov, V. A., Orlov, O. M., Chernikova, A. G., Markeev, A. M., Slesazeck, S., Schroeder, U., Mikolajick, T. & Krasnikov, G. Y., 1 мар. 2019, в: Acta Materialia. 166, стр. 47-55 9 стр.

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Resonance reflection of light by ordered silicon nanopillar arrays with the vertical p-n junction

Basalaeva, L. S., Nastaushev, Y. V., Kryzhanovskaya, N. V., Moiseev, E. I., Radnatarov, D. A., Khripunov, S. A., Utkin, D. E., Chistokhin, I. B., Latyshev, A. V. & Dultsev, F. N., 28 февр. 2019, в: Thin Solid Films. 672, стр. 109-113 5 стр.

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Electron Paramagnetic Resonance in Ge/Si Heterostructures with Mn-Doped Quantum Dots

Zinovieva, A. F., Zinovyev, V. A., Stepina, N. P., Katsuba, A. V., Dvurechenskii, A. V., Gutakovskii, A. K., Kulik, L. V., Bogomyakov, A. S., Erenburg, S. B., Trubina, S. V. & Voelskow, M., 1 февр. 2019, в: JETP Letters. 109, 4, стр. 270-275 6 стр.

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Energy relaxation of hot carriers near the charge neutrality point in HgTe-based 2D topological insulators

Rahim, A., Gusev, G. M., Kvon, Z. D., Olshanetsky, E. B., Mikhailov, N. N. & Dvoretsky, S. A., 1 февр. 2019, в: Microelectronic Engineering. 206, стр. 55-59 5 стр.

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Inverted Dirac-electron population for broadband lasing in a thermally activated p-type topological insulator

Sumida, K., Ishida, Y., Yoshikawa, T., Chen, J., Nurmamat, M., Kokh, K. A., Tereshchenko, O. E., Shin, S. & Kimura, A., 1 февр. 2019, в: Physical Review B. 99, 8, 6 стр., 085302.

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование