1. Thermal Smoothing and Roughening of GaAs Surfaces: Experiment and Monte Carlo Simulation

    Kazantsev, D. M., Akhundov, I. O., Alperovich, V. L., Shwartz, N. L., Kozhukhov, A. S. & Latyshev, A. V., 1 мая 2018, в: Semiconductors. 52, 5, стр. 618-621 4 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатьяРецензирование

  2. Thermal roughening of GaAs surface by unwinding dislocation-induced spiral atomic steps during sublimation

    Kazantsev, D. M., Akhundov, I. O., Rudaya, N. S., Kozhukhov, A. S., Alperovich, V. L. & Latyshev, A. V., 1 нояб. 2020, в: Applied Surface Science. 529, 6 стр., 147090.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатьяРецензирование

  3. Thermal Hysteresis in the Resistance of In2Se3Film on Si(111) Surface

    Ponomarev, S., Rogilo, D., Mironov, A., Sheglov, D. & Latyshev, A., 30 июн. 2021, 2021 IEEE 22nd International Conference of Young Professionals in Electron Devices and Materials, EDM 2021 - Proceedings. IEEE Computer Society, стр. 50-53 4 стр. 9507592. (International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices, EDM; том 2021-June).

    Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференцийстатья в сборнике материалов конференциинаучнаяРецензирование

  4. The piezoelectric gating effect in a thin bent membrane with a two-dimensional electron gas

    Shevyrin, A. A. & Pogosov, A. G., 13 апр. 2018, в: Journal of Physics Condensed Matter. 30, 18, 7 стр., 184003.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатьяРецензирование

  5. The observation of the Aharonov-Bohm effect in suspended semiconductor ring interferometers

    Pokhabov, D. A., Pogosov, A. G., Shevyrin, A. A., Yu Zhdanov, E., Bakarov, A. K., Shklyaev, A. A., Ishutkin, S. V., Stepanenko, M. V. & Shesterikov, E. V., 2 мар. 2018, в: Journal of Physics: Conference Series. 964, 1, 5 стр., 012008.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатья по материалам конференцииРецензирование

  6. The Nature of Defects Responsible for Transport in a Hafnia-Based Resistive Random Access Memory Element

    Islamov, D. R., Perevalov, T. V., Gritsenko, V. A., Aliev, V. S., Saraev, A. A., Kaichev, V. V., Ivanova, E. V., Zamoryanskaya, M. V. & Chin, A., 1 янв. 2017, Advances in Semiconductor Nanostructures: Growth, Characterization, Properties and Applications. Latyshev, AV., Dvurechenskii, AV. & Aseev, AL. (ред.). Elsevier Science Publishing Company, Inc., стр. 493-504 12 стр.

    Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференцийглава/разделнаучнаяРецензирование

  7. The measurement of photocathode transverse energy distribution curves (TEDCs) using the transverse energy spread spectrometer (TESS) experimental system

    Jones, L. B., Juarez-Lopez, D. P., Scheibler, H. E., Terekhov, A. S., Militsyn, B. L., Welsch, C. P. & Noakes, T. C. Q., 1 нояб. 2022, в: Review of Scientific Instruments. 93, 11, 12 стр., 113314.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатьяРецензирование

  8. The increase in band bending at the p-GaN(Cs) - Vacuum interface due to the photoemission from surface states

    Rozhkov, S. A., Bakin, V. V., Kosolobov, S. N., Scheibler, H. E. & Terekhov, A. S., 1 мар. 2020, в: Journal of Physics: Conference Series. 1482, 1, 012008.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатья по материалам конференцииРецензирование

  9. The Evolution of the Conductivity and Cathodoluminescence of the Films of Hafnium Oxide in the Case of a Change in the Concentration of Oxygen Vacancies

    Islamov, D. R., Gritsenko, V. A., Kruchinin, V. N., Ivanova, E. V., Zamoryanskaya, M. V. & Lebedev, M. S., 1 окт. 2018, в: Physics of the Solid State. 60, 10, стр. 2050-2057 8 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатьяРецензирование

  10. The Energy Pulse-Oriented Crystallization Phenomenon in Solids (Laser Annealing)

    Dvurechenskii, A. V., 1 янв. 2017, Advances in Semiconductor Nanostructures: Growth, Characterization, Properties and Applications. Latyshev, AV., Dvurechenskii, AV. & Aseev, AL. (ред.). Elsevier Science Publishing Company, Inc., стр. 367-381 15 стр.

    Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференцийглава/разделнаучнаяРецензирование

ID: 3084764