Photoemission and Injection Properties of a Vacuum Photodiode with Two Negative-Electron-Affinity Semiconductor Electrodes

Rodionov, A. A., Golyashov, V. A., Chistokhin, I. B., Jaroshevich, A. S., Derebezov, I. A., Haisler, V. A., Shamirzaev, T. S., Marakhovka, I. I., Kopotilov, A. V., Kislykh, N. V., Mironov, A. V., Aksenov, V. V. & Tereshchenko, O. E., 26 сент. 2017, в: Physical Review Applied. 8, 3, 8 стр., 034026.

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Conductance oscillations and zero-bias anomaly in a single superconducting junction to a three-dimensional Bi₂Te₃ topological insulator

Shvetsov, O. O., Kostarev, V. A., Kononov, A., Golyashov, V. A., Kokh, K. A., Tereshchenko, O. E. & Deviatov, E. V., 1 сент. 2017, в: Europhysics Letters. 119, 5, 5 стр., 57009.

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Edge capacitance of a two-dimensional topological insulator

Entin, M. V. & Braginsky, L., 1 сент. 2017, в: Physical Review B. 96, 11, 4 стр., 115403.

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Hall effect in hopping conduction in an ensemble of quantum dots

Stepina, N. P., Nenashev, A. V. & Dvurechenskii, A. V., 1 сент. 2017, в: JETP Letters. 106, 5, стр. 308-312 5 стр.

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Electromechanical coupling in suspended nanomechanical resonators with a two-dimensional electron gas

Shevyrin, A. A., Pogosov, A. G., Bakarov, A. K. & Shklyaev, A. A., 15 авг. 2017, в: Journal of Physics: Conference Series. 864, 1, 4 стр., 012043.

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья по материалам конференции › Рецензирование

Leakage currents mechanism in thin films of ferroelectric Hf_0.5Zr_0.5O₂

Islamov, D. R., Chernikova, A. G., Kozodaev, M. G., Markeev, A. M., Perevalov, T. V., Gritsenko, V. A. & Orlov, O. M., 15 авг. 2017, в: Journal of Physics: Conference Series. 864, 1, 4 стр., 012002.

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья по материалам конференции › Рецензирование

Mechanism of charge transport of stress induced leakage current and trap nature in thermal oxide on silicon

Islamov, D. R., Gritsenko, V. A., Perevalov, T. V., Orlov, O. M. & Krasnikov, G. Y., 15 авг. 2017, в: Journal of Physics: Conference Series. 864, 1, 4 стр., 012003.

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья по материалам конференции › Рецензирование

Oxygen polyvacancy in anatas as a filament: First principle investigation

Perevalov, T. V. & Islamov, D. R., 15 авг. 2017, в: Journal of Physics: Conference Series. 864, 1, 4 стр., 012084.

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья по материалам конференции › Рецензирование

Fundamental characteristic length scale for the field dependence of hopping charge transport in disordered organic semiconductors

Nenashev, A. V., Oelerich, J. O., Dvurechenskii, A. V., Gebhard, F. & Baranovskii, S. D., 21 июл. 2017, в: Physical Review B. 96, 3, 7 стр., 035204.

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Robust helical edge transport at ν=0 quantum Hall state

Gusev, G. M., Kozlov, D. A., Levin, A. D., Kvon, Z. D., Mikhailov, N. N. & Dvoretsky, S. A., 21 июл. 2017, в: Physical Review B. 96, 4, 5 стр., 045304.

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование