Quantum states in disordered media. II. Spatial charge carrier distribution

Nenashev, A. V., Baranovskii, S. D., Meerholz, K. & Gebhard, F., 1 февр. 2023, в: Physical Review B. 107, 6, 23 стр., 064207.

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Stability of graphene film on copper, silicon, and glass substrates in contact with boiling water

Смовж, Д. В., Сахаров, С. З., Андрющенко, В. А., Сорокин, Д. В., Бетке, И. А., Комлина, С. В., Старинский, С. В. & Максимовский, Е. А., 1 февр. 2023, в: Interfacial Phenomena and Heat Transfer. 11, 2, стр. 1-11 11 стр.

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Validation and optimization of the epithermal neutron flux detector using the 71Ga(n,γ)72Ga reaction

Byambatseren, E., Burdakov, A., Bykov, T., Kasatov, D., Kolesnikov, I., Savinov, S., Sycheva, T. & Taskaev, S., 1 февр. 2023, в: Journal of Instrumentation. 18, 2, стр. 18 2 стр., P02020.

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Characterization of Structure, Morphology, Optical and Electrical Properties of AlN–Al–V Multilayer Thin Films Fabricated by Reactive DC Magnetron Sputtering

Миронова, М. И., Капишников, А. В., Хамуд, Г., Володин, В. А., Азаров, И. А., Юшков, И. Д., Камаев, Г. Н., Супрун, Е., Chirikov, N., Davletkildeev, N. A., Baidakov, A. N., Kovivchak, V. S., Baranova, L. V., Струнин, В. И. & Гейдт, П. В., февр. 2023, в: Coatings. 13, 2, 223.

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Charge Transport Mechanism in the Forming-Free Memristor Based on PECVD Silicon Oxynitride

Gismatulin, A. A., Kamaev, G. N., Volodin, V. A. & Gritsenko, V. A., февр. 2023, в: Electronics (Switzerland). 12, 3, 598.

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Corrigendum to “Fabrication of polycrystalline silicon thin films by gold-induced crystallization of amorphous silicon suboxide” [Vacuum 192 (2021) 110462](S0042207X21004127)(10.1016/j.vacuum.2021.110462)

Zamchiy, A. O., Baranov, E. A., Starinskiy, S. V., Lunev, N. A. & Merkulova, I. E., февр. 2023, в: Vacuum. 208, 111713.

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › комментарий, выступление › Рецензирование

Dependence of the velocity of bubbles in an inclined flat channel on gas volume fraction and bubble diameter

Gorelikova, A. E., Randin, V. V. & Chinak, A. V., февр. 2023, в: Journal of Applied Mechanics and Technical Physics. 64, 1, стр. 73-78 6 стр.

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Experiments with the KEDR Detector at the Collider VEPP-4M in the Energy Range = 1.84–3.88 GeV

KEDR Collaboration, Анчугов, О. В., Барняков, А. Ю., Барняков, М. Ю., Бару, С. Е., Glukhov, S. A., Григорьев, Д. Н., Дорохов, В. Л., Жуков, А. А., Журавлев, А. Н., Karnaev, S. E., Катцин, А. А., Kashtankin, D. P., Куликов, В. Ф., Mishnev, S. I., Морозов, И. И., Мучной, Н. Ю., Okunev, I. N., Piminov, P. A., Simonov, E. A., еще 9Sinyatkin, S. V., Таюрский, В. А., Тихонов, Ю. А., Тодышев, К. Ю., Tribendis, A. G., Tumaikin, G. M., Усов, Ю. В., Жуков, А. А. & Журавлев, А. Н., февр. 2023, в: Physics of Particles and Nuclei. 54, 1, стр. 185-226 42 стр.

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Formation of light-emitting defects in silicon by swift heavy ion irradiation and subsequent annealing

Cherkova, S. G., Volodin, V. A., Skuratov, V. A., Stoffel, M., Rinnert, H. & Vergnat, M., февр. 2023, в: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research, Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms. 535, стр. 132-136 5 стр.

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Memristors Based on Many-Layer Non-Stoichiometric Germanosilicate Glass Films

Yushkov, I. D., Yin, L., Kamaev, G. N., Prosvirin, I. P., Geydt, P. V., Vergnat, M. & Volodin, V. A., февр. 2023, в: Electronics (Switzerland). 12, 4, 873.

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование