101 - 110 из 266Размер страницы: 10
Сортировать по:: Заголовок

  1. Simulations of electromagnetic emissions produced in a thin plasma by a continuously injected electron beam

    Annenkov, V. V., Timofeev, I. V. & Volchok, E. P., 1 мая 2016, в: Physics of Plasmas. 23, 5, 053101.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  2. Silicon Nanocrystals and Amorphous Nanoclusters in SiOx and SiNx: Atomic, Electronic Structure, and Memristor Effects

    Володин, В. А., Гриценко, В. А., Гисматулин, А. А. & Chin, A., 8 июн. 2019, Nanocrystalline Materials. IntechOpen, стр. 1-23 23 стр. (Nanocrystalline Materials).

    Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › глава/раздел › научная › Рецензирование

  3. Silicon Dioxide in Mineralized Heart Valves

    Titov, A., Zaikovskii, V. & Larionov, P. M., 1 сент. 2019, Springer Proceedings in Earth and Environmental Sciences. Glagolev, S. (ред.). Springer International Publishing AG, стр. 432-435 4 стр. (Springer Proceedings in Earth and Environmental Sciences).

    Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › глава/раздел › научная › Рецензирование

  4. Shapes of Ge and Si Particles Created on a Si/SiO2Substrate by Lift-off Technique

    Utkin, D. & Shklyaev, A., 30 июн. 2021, 2021 IEEE 22nd International Conference of Young Professionals in Electron Devices and Materials, EDM 2021 - Proceedings. IEEE Computer Society, стр. 33-36 4 стр. 9507661. (International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices, EDM; том 2021-June).

    Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › статья в сборнике материалов конференции › научная › Рецензирование

  5. Semiconductor nanostructures for modern electronics

    Aseev, A. L., Latyshev, A. V. & Dvurechenskii, A. V., 2020, Advanced Research in Materials Science III. Davaasambuu, J. (ред.). Trans Tech Publications Ltd, стр. 65-80 16 стр. (Solid State Phenomena; том 310 SSP).

    Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › статья в сборнике материалов конференции › научная › Рецензирование

  6. Scientific Heritage of S. V. Bogdanov

    Kidyarov, B. I., Kolosovsky, E. A., Tsarev, A. V., Neizvestny, I. G., Aseev, A. L., Latyshev, A. V., Chaplik, A. V. & Dvurechenskii, A. V., 1 сент. 2021, в: Optoelectronics, Instrumentation and Data Processing. 57, 5, стр. 539-543 5 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  7. Room-temperature nitrophenol reduction over ag–ceo2 catalysts: The role of catalyst preparation method

    Chernykh, M., Mikheeva, N., Zaikovskii, V., Salaev, M., Liotta, L. F. & Mamontov, G., 21 мая 2020, в: Catalysts. 10, 5, 12 стр., 580.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  8. Revealing the underlying mechanisms behind TE extraordinary THz transmission

    Freer, S., Camacho, M., Kuznetsov, S. A., Boix, R. R., Beruete, M. & Navarro-Cía, M., 1 апр. 2020, в: Photonics Research. 8, 4, стр. 430-439 10 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  9. Resonant Raman scattering on graphene: SERS and gap-mode TERS

    Kurus, N. N., Kalinin, V., Nebogatikova, N. A., Milekhin, I. A., Antonova, I. V., Rodyakina, E. E., Milekhin, A. G., Latyshev, A. V. & Zahn, D. R. T., 23 янв. 2024, в: RSC Advances. 14, 6, стр. 3667-3674 8 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  10. Resonances in Ge disk lattices on Si at telecommunication wavelengths

    Шкляев, А. А., Utkin, D., Зиновьев, В., Рудин, С., Зиновьева, А. Ф., Ненашев, А. В., Ташкеев, Н. А. & Вебер, С., 2025, в: Physical Review A. 112, 063528.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Назад 1...7 8 9 10 11 12 13 14 ...27 Далее

ID: 10000229