1 - 5 из 5Размер страницы: 10
Сортировать по:: Год публикации
  1. 2023

  2. iOk Platform for Automatic Search and Analysis of Objects in Images Using Artificial Intelligence in the Study of Supported Catalysts

    Nartova, A. V., Matveev, A. V., Mashukov, M. Y., Belotserkovskii, V. A., Sankova, N. N., Kudinov, V. Y. & Okunev, A. G., авг. 2023, в: Kinetics and Catalysis. 64, 4, стр. 458-465 8 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  3. iOk Platform for Automated Object Detection and Analysis in Microscopy Images

    Kudinov, V. Y., Matveev, A. V., Nartova, A. V., Sankova, N. N., Belotserkovskii, V. A. & Okunev, A. G., 2023, Proceedings of the 2023 IEEE 16th International Scientific and Technical Conference Actual Problems of Electronic Instrument Engineering, APEIE 2023. Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), стр. 1420-1423 4 стр.

    Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › статья в сборнике материалов конференции › научная › Рецензирование

  4. 2022

  5. Particle Recognition on Transmission Electron Microscopy Images Using Computer Vision and Deep Learning for Catalytic Applications

    Nartova, A. V., Mashukov, M. Y., Astakhov, R. R., Kudinov, V. Y., Matveev, A. V. & Okunev, A. G., февр. 2022, в: Catalysts. 12, 2, 135.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  6. 2020

  7. Using Computer Vision and Deep Learning for Cells Recognition

    Kudinov, V. Y., Mashukov, M. Y., Maslova, E. A., Orishchenko, K. E., Okunev, A. G. & Matveev, A. V., 14 нояб. 2020, Proceedings - 2020 Science and Artificial Intelligence Conference, S.A.I.ence 2020. Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc., стр. 17-20 4 стр. 9303201. (Proceedings - 2020 Science and Artificial Intelligence Conference, S.A.I.ence 2020).

    Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › статья в сборнике материалов конференции › научная › Рецензирование

  8. Using Computer Vision and Deep Learning for Nanoparticle Recognition on Scanning Probe Microscopy Images: Modified U-net Approach

    Liz, M. F., Nartova, A. V., Matveev, A. V. & Okunev, A. G., 14 нояб. 2020, Proceedings - 2020 Science and Artificial Intelligence Conference, S.A.I.ence 2020. Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc., стр. 13-16 4 стр. 9303184. (Proceedings - 2020 Science and Artificial Intelligence Conference, S.A.I.ence 2020).

    Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › статья в сборнике материалов конференции › научная › Рецензирование

ID: 17403078