Standard

DiPoly (Diffraction analysis of Polymers). / Яценко, Дмитрий Анатольевич (Author).

Роспатент - Федеральная служба по интеллектуальной собственности. Patent No.: 2021667130. Oct 25, 2021.

Research output: Patent › Software registration

Harvard

Яценко, ДА Oct. 25 2021, DiPoly (Diffraction analysis of Polymers), Patent No. 2021667130. <https://www1.fips.ru/registers-doc-view/fips_servlet?DB=EVM&DocNumber=2021667130&TypeFile=html>

APA

Яценко, Д. А. (2021). DiPoly (Diffraction analysis of Polymers). (Patent No. 2021667130). Роспатент - Федеральная служба по интеллектуальной собственности. https://www1.fips.ru/registers-doc-view/fips_servlet?DB=EVM&DocNumber=2021667130&TypeFile=html

Vancouver

Яценко ДА, inventor. DiPoly (Diffraction analysis of Polymers). 2021667130. 2021 Oct 25.

Author

Яценко, Дмитрий Анатольевич (Author). / DiPoly (Diffraction analysis of Polymers). Роспатент - Федеральная служба по интеллектуальной собственности. Patent No.: 2021667130. Oct 25, 2021.

BibTeX

@misc{733a8f93c6b64cfca3f362d7d62495fa,
title = "DiPoly (Diffraction analysis of Polymers)",
abstract = "Программа реализует основные дифракционные методы для структурной характеризации биополимеров. Позволяет обрабатывать экспериментальные порошковые рентгеновские дифрактограммы полимерных образцов биомассы различного происхождения. Для определения размеров областей когерентного рассеяния используется формула Селякова-Шеррера, для оценки степени кристалличности методы Сегала и Лебейла/Ритвельда. ОС: Windows 7/8/10.",
keywords = "МАТЕМАТИЧЕСКИЕ АЛГОРИТМЫ, ПРОГРАММНОЕ ОБЕСПЕЧЕНИЕ, КОМПЬЮТЕРНОЕ МОДЕЛИРОВАНИЕ, РАСТИТЕЛЬНАЯ БИОМАССА, ЦЕЛЛЮЛОЗА, БИОПОЛИМЕРЫ, НАНОМАТЕРИАЛЫ, СТРУКТУРНАЯ ДИАГНОСТИКА, ПОРОШКОВАЯ РЕНТГЕНОВСКАЯ ДИФРАКЦИЯ, ИНДЕКС КРИСТАЛЛИЧНОСТИ",
author = "Яценко, {Дмитрий Анатольевич}",
year = "2021",
month = oct,
day = "25",
language = "русский",
publisher = "Роспатент - Федеральная служба по интеллектуальной собственности",
type = "Patent",
note = "2021667130",

}

RIS

TY - PAT

T1 - DiPoly (Diffraction analysis of Polymers)

AU - Яценко, Дмитрий Анатольевич

PY - 2021/10/25

Y1 - 2021/10/25

N2 - Программа реализует основные дифракционные методы для структурной характеризации биополимеров. Позволяет обрабатывать экспериментальные порошковые рентгеновские дифрактограммы полимерных образцов биомассы различного происхождения. Для определения размеров областей когерентного рассеяния используется формула Селякова-Шеррера, для оценки степени кристалличности методы Сегала и Лебейла/Ритвельда. ОС: Windows 7/8/10.

AB - Программа реализует основные дифракционные методы для структурной характеризации биополимеров. Позволяет обрабатывать экспериментальные порошковые рентгеновские дифрактограммы полимерных образцов биомассы различного происхождения. Для определения размеров областей когерентного рассеяния используется формула Селякова-Шеррера, для оценки степени кристалличности методы Сегала и Лебейла/Ритвельда. ОС: Windows 7/8/10.

KW - МАТЕМАТИЧЕСКИЕ АЛГОРИТМЫ

KW - ПРОГРАММНОЕ ОБЕСПЕЧЕНИЕ

KW - КОМПЬЮТЕРНОЕ МОДЕЛИРОВАНИЕ

KW - РАСТИТЕЛЬНАЯ БИОМАССА

KW - ЦЕЛЛЮЛОЗА

KW - БИОПОЛИМЕРЫ

KW - НАНОМАТЕРИАЛЫ

KW - СТРУКТУРНАЯ ДИАГНОСТИКА

KW - ПОРОШКОВАЯ РЕНТГЕНОВСКАЯ ДИФРАКЦИЯ

KW - ИНДЕКС КРИСТАЛЛИЧНОСТИ

M3 - свидетельство о регистрации программы для ЭВМ

M1 - 2021667130

PB - Роспатент - Федеральная служба по интеллектуальной собственности

ER -

ID: 34539206