Research output: Contribution to journal › Article › peer-review
Спектроскопия КРС и ОДМР NV-центров в нанослоях и наностолбах (111) алмаза после травления сфокусированным пучком ионов GA. / КАРТАШОВ, И. А.; ПОДЛЕСНЫЙ, С.Н.; АНТОНОВ, В.А. et al.
In: Автометрия, Vol. 59, No. 6, 2023, p. 23-32.Research output: Contribution to journal › Article › peer-review
}
TY - JOUR
T1 - Спектроскопия КРС и ОДМР NV-центров в нанослоях и наностолбах (111) алмаза после травления сфокусированным пучком ионов GA
AU - КАРТАШОВ, И. А.
AU - ПОДЛЕСНЫЙ, С.Н.
AU - АНТОНОВ, В.А.
AU - ПОПОВ, В.П.
AU - ПАЛЬЯНОВ, Ю.Н.
N1 - Работа выполнена при поддержке Министерства науки и высшего образования (проект № 2020-1902-01-058). Спектроскопия КРС и ОДМР NV-центров в нанослоях и наностолбах ⟨111⟩ алмаза после травления сфокусированным пучком ионов Gа / И. А. Карташов, С. Н. Подлесный, В. А. Антонов [и др.] // Автометрия. – 2023. – Т. 59, № 6. – С. 23-32. – DOI 10.15372/AUT20230603.
PY - 2023
Y1 - 2023
N2 - Исследованы спектральные характеристики оптически детектируемого магнитного резонанса отрицательно заряженных центров азот-вакансия (NV-) в синтетических алмазах и наностолбах на их поверхности, сформированных сфокусированным ионным пучком Ga+ при заселении нижних спиновых подуровней микроволновым излучением. В ходе исследований для проявляющихся спиновых резонансов при различных значениях внешнего магнитного поля выявлено как существенное уменьшение гиромагнитного соотношения, так и существенное падение контраста фотолюминесценции для направлений центров NV-, наклонных к оси наностолбов вследствие остаточных дефектов от ионного травления, регистрируемых на спектрах комбинационного рассеяния света в форме пиков от аморфного углерода и графита и создаваемых ими напряжений.The spectral characteristics of optically detectable magnetic resonance (ODMR) are investigated for negatively charged nitrogen-vacancy (NV-) centers in synthetic diamonds and nanopillars on their surface formed by a Ga+ focused ion beam (FIB), when lower spin sublevels are populated with the microwave radiation in 0-20 G magnetic fields. Both a significant decrease in the gyromagnetic ratio and the quenching of luminescence from the NV- centers inclined to the nanopillar axis are revealed due to residual defects and stresses created by them.
AB - Исследованы спектральные характеристики оптически детектируемого магнитного резонанса отрицательно заряженных центров азот-вакансия (NV-) в синтетических алмазах и наностолбах на их поверхности, сформированных сфокусированным ионным пучком Ga+ при заселении нижних спиновых подуровней микроволновым излучением. В ходе исследований для проявляющихся спиновых резонансов при различных значениях внешнего магнитного поля выявлено как существенное уменьшение гиромагнитного соотношения, так и существенное падение контраста фотолюминесценции для направлений центров NV-, наклонных к оси наностолбов вследствие остаточных дефектов от ионного травления, регистрируемых на спектрах комбинационного рассеяния света в форме пиков от аморфного углерода и графита и создаваемых ими напряжений.The spectral characteristics of optically detectable magnetic resonance (ODMR) are investigated for negatively charged nitrogen-vacancy (NV-) centers in synthetic diamonds and nanopillars on their surface formed by a Ga+ focused ion beam (FIB), when lower spin sublevels are populated with the microwave radiation in 0-20 G magnetic fields. Both a significant decrease in the gyromagnetic ratio and the quenching of luminescence from the NV- centers inclined to the nanopillar axis are revealed due to residual defects and stresses created by them.
KW - Искусственный алмаз
KW - Наноструктуры с центрами NV
KW - Оптическое детектирование магнтитных резонансов
KW - Комбинационное рассеяние света
KW - Raman scattering
KW - optical detection of magnetic resonances
KW - NANOSTRUCTURES WITH NV- CENTERS
KW - SYNTHETIC DIAMOND,
UR - https://www.mendeley.com/catalogue/16a02455-2fd5-328d-8c2c-b23892baa568/
U2 - 10.15372/aut20230603
DO - 10.15372/aut20230603
M3 - статья
VL - 59
SP - 23
EP - 32
JO - Автометрия
JF - Автометрия
SN - 0320-7102
IS - 6
ER -
ID: 71985812