Research output: Patent › Patent for invention
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ НАБЕГА ФАЗЫ МОНОХРОМАТИЧЕСКОЙ ПОВЕРХНОСТНОЙ ЭЛЕКТРОМАГНИТНОЙ ВОЛНЫ ИНФРАКРАСНОГО ДИАПАЗОНА. / Кирьянов, Анатолий Павлович (Author); Князев, Борис Александрович (Author); Никитин, Алексей Константинович (Author) et al.
Роспатент - Федеральная служба по интеллектуальной собственности. Patent No.: 2491522. Aug 27, 2013.Research output: Patent › Patent for invention
}
TY - PAT
T1 - СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ НАБЕГА ФАЗЫ МОНОХРОМАТИЧЕСКОЙ ПОВЕРХНОСТНОЙ ЭЛЕКТРОМАГНИТНОЙ ВОЛНЫ ИНФРАКРАСНОГО ДИАПАЗОНА
AU - Кирьянов, Анатолий Павлович
AU - Князев, Борис Александрович
AU - Никитин, Алексей Константинович
AU - Хитров, Олег Владимирович
PY - 2013/8/27
Y1 - 2013/8/27
N2 - Изобретение относится к оптическим методам контроля проводящей поверхности в инфракрасном (ИК) излучении и может быть использовано в физико-химических исследованиях динамики роста переходного слоя поверхности, в технологических процессах для контроля толщины и однородности тонкослойных покрытий металлизированных изделий и полупроводниковых подложек, а также в сенсорных устройствах. Способ определения набега фазы монохроматической поверхностной электромагнитной волны (ПЭВ) инфракрасного диапазона включает генерацию поверхностной электромагнитной волны во всем спектральном диапазоне широкополосного источника излучения, регистрацию интерферограмм, формируемых в результате взаимодействия излучения опорного пучка и измерительного пучка, порожденного ПЭВ, при этом ПЭВ пробегает различные расстояния участка ее трека, соответствующие крайним точкам контролируемого участка. Излучение источника содержит гармоническую составляющую с волновым числом σ, равным волновому числу контролируемой ПЭВ, а расчет производят с учетом зависимости Δφ(σ), получаемой в результате применения к интерферограммам полного Фурье-преобразования. Технический результат заключается в обеспечении возможности сокращения времени измерений и обеспечения возможности однозначности определения набега фазы Δφ монохроматической ПЭВ.
AB - Изобретение относится к оптическим методам контроля проводящей поверхности в инфракрасном (ИК) излучении и может быть использовано в физико-химических исследованиях динамики роста переходного слоя поверхности, в технологических процессах для контроля толщины и однородности тонкослойных покрытий металлизированных изделий и полупроводниковых подложек, а также в сенсорных устройствах. Способ определения набега фазы монохроматической поверхностной электромагнитной волны (ПЭВ) инфракрасного диапазона включает генерацию поверхностной электромагнитной волны во всем спектральном диапазоне широкополосного источника излучения, регистрацию интерферограмм, формируемых в результате взаимодействия излучения опорного пучка и измерительного пучка, порожденного ПЭВ, при этом ПЭВ пробегает различные расстояния участка ее трека, соответствующие крайним точкам контролируемого участка. Излучение источника содержит гармоническую составляющую с волновым числом σ, равным волновому числу контролируемой ПЭВ, а расчет производят с учетом зависимости Δφ(σ), получаемой в результате применения к интерферограммам полного Фурье-преобразования. Технический результат заключается в обеспечении возможности сокращения времени измерений и обеспечения возможности однозначности определения набега фазы Δφ монохроматической ПЭВ.
M3 - патент на изобретение
M1 - 2491522
PB - Роспатент - Федеральная служба по интеллектуальной собственности
ER -
ID: 27086262