1. Моделирование димеризации атомов на поверхности структурированных подложек Si

    Новиков, П. Л., Павский, К. В. & Цынк, П. Н., 2025, In: Известия вузов. Физика. 68, 7 (812), p. 87-94

    Research output: Contribution to journalArticlepeer-review

  2. Многоуровневая мемристорная структура на основе аморфного кремния

    Камаев, Г. Н., Володин, В. А. & Чэн, Н., 12 Dec 2025, Роспатент - Федеральная служба по интеллектуальной собственности, Patent No. 239675, 5 Sept 2025, Priority date 5 Sept 2025, Priority No. 2025124514

    Research output: PatentPatent for utility model

  3. МНОГОКАНАЛЬНАЯ ГАЗОВАЯ ИОНИЗАЦИОННАЯ КАМЕРА

    Диканский, Н. С., Кочеев, А. А., Алякринский, О. Н., Бару, С. Е., Леонов, В. В. & Поросев, В. В., 20 Oct 2014, IPC No. H01J47/02, G01T5/12, Роспатент - Федеральная служба по интеллектуальной собственности, Patent No. 2530903, Priority date 1 Mar 2013, Priority No. 2013109327

    Research output: PatentPatent for invention

  4. Механизм транспорта заряда в МДП-структурах ITO/[GeOx](z)[SiO2](1-z)/n+-Si

    Юшков, И. Д., Гисматулин, А. А., Камаев, Г. Н., Vergnat, M. & Володин, В. А., 2025, In: Физика и техника полупроводников. 59, 6, p. 364-370 7 p., 10.

    Research output: Contribution to journalArticlepeer-review

  5. Методы физического эксперимента

    Косинов, А. Д., Костюрина, А. Г. & Брагин, О. А., 2024, Москва: Юрайт. 86 p. (Высшее образование)

    Research output: Book/ReportTeaching manualpeer-review

  6. Методы физического эксперимента

    Косинов, А. Д., Костюрина, А. Г. & Брагин, О. А., 2025, Москва: Юрайт. 86 p. (Высшее образование)

    Research output: Book/ReportBookEducationpeer-review

  7. Методы физического эксперимента

    Косинов, А. Д., Костюрина, А. Г. & Брагин, О. А., 2022, Москва: Юрайт. 86 p. (Высшее образование)

    Research output: Book/ReportTeaching manualpeer-review

  8. Методы физического эксперимента

    Косинов, А. Д., Костюрина, А. Г. & Брагин, О. А., 2021, Москва: Юрайт. 86 p. (Высшее образование)

    Research output: Book/ReportTeaching manualpeer-review

  9. Методы определения толщины и элементарного состава тонких слоев, облучаемых пучком ионов, при измерении сечений ядерных реакций

    Бикчурина, М. И., Асанов, И. П., Быков, Т. А., Касатов, Д. А., Колесников, Я. А., Николаев, А. Г., Окс, Е. М., Остреинов, Г. М., Савинов, С. С., Соколова, Е. О., Трубина, С. В., Шуклина, А. А., Юшков, Г. Ю. & Таскаев, С. Ю., 2025, In: Письма в журнал "Физика элементарных частиц и атомного ядра" . 22, 4 (261), p. 539-546

    Research output: Contribution to journalArticlepeer-review

ID: 3085556