Kinetic Study of Ge Nanocluster Formation in Composite GeOx[SiO2] Films

Kislukhin, N. A., Astankova, K. N. & Volodin, V. A., 8 авг. 2025, International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices, EDM. IEEE Computer Society, стр. 120-124 5 стр. (International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices, EDM).

Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › статья в сборнике материалов конференции › научная › Рецензирование

Methods of Automatic Selection of Named Entities (NER) in Uzbek Language for Text Tone Analysis

Saidov, B. R., Barakhnin, V. B., Rixsibayev, U. T., Sobirov, O. O., Bekchanov, K. M. & Sharipov, E. J., 8 авг. 2025, International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices, EDM. IEEE Computer Society, стр. 1740-1745 6 стр. (International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices, EDM).

Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › статья в сборнике материалов конференции › научная › Рецензирование

Prediction of Anxiety Levels Based on Spatial-Frequency Patterns of EEG Activity During Perception of Another Person's Face

Lozhnikov, V., 8 авг. 2025, International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices, EDM. IEEE Computer Society, стр. 1850-1853 4 стр. (International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices, EDM).

Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › статья в сборнике материалов конференции › научная › Рецензирование

Semi-Automated Framework for Feature Engineering in Machine Learning and Data Analysis

Radeev, N. & Vinogradova, K., 8 авг. 2025, International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices, EDM. IEEE Computer Society, стр. 1520-1525 6 стр. (International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices, EDM).

Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › статья в сборнике материалов конференции › научная › Рецензирование

Structural Transformation of Bi2Se3(001) Surface during Sn Monolayer Annealing

Zakhozhev, K., Ponomarev, S., Golyashov, V., Nasimov, D., Kokh, K. & Rogilo, D., 8 авг. 2025, International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices, EDM. IEEE Computer Society, стр. 80-83 4 стр. (International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices, EDM).

Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › статья в сборнике материалов конференции › научная › Рецензирование

Towards Verification Reflex Programs in the Rodin Platform

Shabanova, M. & Garanina, N., 8 авг. 2025, International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices, EDM. IEEE Computer Society, стр. 1490-1495 6 стр. (International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices, EDM).

Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › статья в сборнике материалов конференции › научная › Рецензирование

Using Algorithmic Complexity Metrics for Process-Oriented Specifications

Abramenko, A. & Zyubin, V., 8 авг. 2025, International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices, EDM. IEEE Computer Society, стр. 1430-1434 5 стр. (International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices, EDM).

Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › статья в сборнике материалов конференции › научная › Рецензирование

Using Machine Learning Methods to Search for EEG and Genetic Markers of Depressive Disorder

Zorina, K., Kriveckiy, A., Klemeshova, D., Bocharov, A. & Karmanov, V., 8 авг. 2025, International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices, EDM. IEEE Computer Society, стр. 1790-1793 4 стр. (International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices, EDM).

Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › статья в сборнике материалов конференции › научная › Рецензирование

Validation of the Russian Version of the Broad Autism Phenotype Questionnaire in a Russian Speaking Sample of Neurotypical Subjects

Kuleshov, D., Vlasov, M. & Vergunov, E., 8 авг. 2025, International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices, EDM. IEEE Computer Society, стр. 1770-1773 4 стр. (International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices, EDM).

Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › статья в сборнике материалов конференции › научная › Рецензирование