1. 2025
  2. Kinetic Study of Ge Nanocluster Formation in Composite GeOx[SiO2] Films

    Kislukhin, N. A., Astankova, K. N. & Volodin, V. A., 8 авг. 2025, International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices, EDM. IEEE Computer Society, стр. 120-124 5 стр. (International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices, EDM).

    Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференцийстатья в сборнике материалов конференциинаучнаяРецензирование

  3. Methods of Automatic Selection of Named Entities (NER) in Uzbek Language for Text Tone Analysis

    Saidov, B. R., Barakhnin, V. B., Rixsibayev, U. T., Sobirov, O. O., Bekchanov, K. M. & Sharipov, E. J., 8 авг. 2025, International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices, EDM. IEEE Computer Society, стр. 1740-1745 6 стр. (International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices, EDM).

    Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференцийстатья в сборнике материалов конференциинаучнаяРецензирование

  4. Prediction of Anxiety Levels Based on Spatial-Frequency Patterns of EEG Activity During Perception of Another Person's Face

    Lozhnikov, V., 8 авг. 2025, International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices, EDM. IEEE Computer Society, стр. 1850-1853 4 стр. (International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices, EDM).

    Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференцийстатья в сборнике материалов конференциинаучнаяРецензирование

  5. Semi-Automated Framework for Feature Engineering in Machine Learning and Data Analysis

    Radeev, N. & Vinogradova, K., 8 авг. 2025, International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices, EDM. IEEE Computer Society, стр. 1520-1525 6 стр. (International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices, EDM).

    Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференцийстатья в сборнике материалов конференциинаучнаяРецензирование

  6. Structural Transformation of Bi2Se3(001) Surface during Sn Monolayer Annealing

    Zakhozhev, K., Ponomarev, S., Golyashov, V., Nasimov, D., Kokh, K. & Rogilo, D., 8 авг. 2025, International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices, EDM. IEEE Computer Society, стр. 80-83 4 стр. (International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices, EDM).

    Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференцийстатья в сборнике материалов конференциинаучнаяРецензирование

  7. Study of the influence of population immunity to tick-borne encephalitis virus on the characteristics of the epidemic process in Russia

    Muminov, T. K., Gushchin, V. A., Kleymenov, D. A., Tkachuk, A. P., Manuylov, V. A., Siniavin, A. E., Ogarkova, D. A., Kuznetsova, N. A., Zlobin, V. I. & Gintsburg, A. L., 8 авг. 2025, в: Frontiers in Immunology. 16, 12 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатьяРецензирование

  8. Towards Verification Reflex Programs in the Rodin Platform

    Shabanova, M. & Garanina, N., 8 авг. 2025, International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices, EDM. IEEE Computer Society, стр. 1490-1495 6 стр. (International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices, EDM).

    Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференцийстатья в сборнике материалов конференциинаучнаяРецензирование

  9. Using Algorithmic Complexity Metrics for Process-Oriented Specifications

    Abramenko, A. & Zyubin, V., 8 авг. 2025, International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices, EDM. IEEE Computer Society, стр. 1430-1434 5 стр. (International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices, EDM).

    Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференцийстатья в сборнике материалов конференциинаучнаяРецензирование

  10. Using Machine Learning Methods to Search for EEG and Genetic Markers of Depressive Disorder

    Zorina, K., Kriveckiy, A., Klemeshova, D., Bocharov, A. & Karmanov, V., 8 авг. 2025, International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices, EDM. IEEE Computer Society, стр. 1790-1793 4 стр. (International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices, EDM).

    Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференцийстатья в сборнике материалов конференциинаучнаяРецензирование

  11. Validation of the Russian Version of the Broad Autism Phenotype Questionnaire in a Russian Speaking Sample of Neurotypical Subjects

    Kuleshov, D., Vlasov, M. & Vergunov, E., 8 авг. 2025, International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices, EDM. IEEE Computer Society, стр. 1770-1773 4 стр. (International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices, EDM).

    Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференцийстатья в сборнике материалов конференциинаучнаяРецензирование