Bokhan, P. A.,
Fateev, N. V.,
Osinnykh, I. V.,
Malin, T. V.,
Zakrevsky, D. E.,
Zhuravlev, K. S.,
Wei, X.,
Li, J. &
Chen, L.,
1 апр. 2018,
в: Journal of Semiconductors. 39,
4,
6 стр., 043002.
Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование