24071 - 24080 из 25 928Размер страницы: 10
Сортировать по:: Заголовок

  1. Atomic Layer Deposition Synthesis of thin Films of Vanadium Oxides in a Reducing Hydrogen Atmosphere

    Voloshin, B. V., Seleznev, V. A. & Golyashov, V. A., окт. 2024, в: Journal of Structural Chemistry. 65, 10, стр. 2073-2087 15 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  2. Atomic Force Microscopy Local Oxidation of GeO Thin Films

    Astankova, K. N., Kozhukhov, A. S., Gorokhov, E. B., Azarov, I. A. & Latyshev, A. V., 1 дек. 2018, в: Semiconductors. 52, 16, стр. 2081-2084 4 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  3. Atomic condensate in an optical trap formed by a cavity mode

    Il’ichev, L. V., 1 июл. 2017, в: JETP Letters. 106, 1, стр. 12-17 6 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  4. Atomic clock stability under dynamic excitation of coherent population trapping resonance in cells without buffer gas

    Kobtsev, S., Radnatarov, D., Khripunov, S., Popkov, I., Andryushkov, V. & Steschenko, T., 1 янв. 2018, Steep Dispersion Engineering and Opto-Atomic Precision Metrology XI. Shahriar, SM. & Scheuer, J. (ред.). The International Society for Optical Engineering, Том 10548. 6 стр. 1054820. (Proceedings of SPIE; том 10548).

    Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › статья в сборнике материалов конференции › научная › Рецензирование

  5. Atomic clock on the basis of the CPT effect in counter-propagating circularly polarised waves

    Radnatarov, D. A., Kobtsev, S., Gromov, I., Kozmina, P., Basalaev, M. & Yudin, V., 2023, в: Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering. 12775, 5 стр., 127751G.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья по материалам конференции › Рецензирование

  6. Atomic and electronic structures of the native defects responsible for the resistive effect in HfO2: ab initio simulations

    Perevalov, T. V. & Islamov, D. R., 15 авг. 2019, в: Microelectronic Engineering. 216, 5 стр., 111038.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  7. Atomic and Electronic Structures of Metal-Rich Noncentrosymmetric ZrOx

    Gritsenko, V. A., Perevalov, T. V., Volodin, V. A., Kruchinin, V. N., Gerasimova, A. K. & Prosvirin, I. P., 1 авг. 2018, в: JETP Letters. 108, 4, стр. 226-230 5 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  8. Atomic and Electronic Structures of Intrinsic Defects in Ta2O5: Ab Initio Simulation

    Perevalov, T. V., Islamov, D. R. & Chernykh, I. G., 1 июн. 2018, в: JETP Letters. 107, 12, стр. 761-765 5 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  9. Atomic and Electronic Structures of a-SiN x:H

    Gritsenko, V. A., Kruchinin, V. N., Prosvirin, I. P., Novikov, Y. N., Chin, A. & Volodin, V. A., 1 нояб. 2019, в: Journal of Experimental and Theoretical Physics. 129, 5, стр. 924-934 11 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  10. Atomic and Electronic Structure of SiOx Films Obtained with Hydrogen Electron Cyclotron Resonance Plasma

    Perevalov, T. V., Iskhakzai, R. M. K., Aliev, V. S., Gritsenko, V. A. & Prosvirin, I. P., дек. 2020, в: Journal of Experimental and Theoretical Physics. 131, 6, стр. 940-944 5 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Назад 1...2404 2405 2406 2407 2408 2409 2410 2411 ...2593 Далее