1. 2021
  2. Shapes of Ge and Si Particles Created on a Si/SiO2Substrate by Lift-off Technique

    Utkin, D. & Shklyaev, A., 30 июн. 2021, 2021 IEEE 22nd International Conference of Young Professionals in Electron Devices and Materials, EDM 2021 - Proceedings. IEEE Computer Society, стр. 33-36 4 стр. 9507661. (International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices, EDM; том 2021-June).

    Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференцийстатья в сборнике материалов конференциинаучнаяРецензирование

  3. System Architecture for Reading and Interpreting Physical Printouts of Medical Forms

    Snegireva, E., Khazankin, G. R. & Mikheenko, I., 30 июн. 2021, 2021 IEEE 22nd International Conference of Young Professionals in Electron Devices and Materials, EDM 2021 - Proceedings. IEEE Computer Society, стр. 547-550 4 стр. 9507594. (International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices, EDM; том 2021-June).

    Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференцийстатья в сборнике материалов конференциинаучнаяРецензирование

  4. Thermal Hysteresis in the Resistance of In2Se3Film on Si(111) Surface

    Ponomarev, S., Rogilo, D., Mironov, A., Sheglov, D. & Latyshev, A., 30 июн. 2021, 2021 IEEE 22nd International Conference of Young Professionals in Electron Devices and Materials, EDM 2021 - Proceedings. IEEE Computer Society, стр. 50-53 4 стр. 9507592. (International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices, EDM; том 2021-June).

    Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференцийстатья в сборнике материалов конференциинаучнаяРецензирование

  5. The Use of Model-Theoretical Methods for Automated Knowledge Extraction from Medical Texts

    Pogodin, R. S. & Palchunov, D., 30 июн. 2021, 2021 IEEE 22nd International Conference of Young Professionals in Electron Devices and Materials, EDM 2021 - Proceedings. IEEE Computer Society, стр. 555-560 6 стр. 9507606. (International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices, EDM; том 2021-June).

    Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференцийстатья в сборнике материалов конференциинаучнаяРецензирование

  6. Use of Computer Methods for Analyzing Brain Signals to Assess the Success of Adaptation of Labor Migrants to Extreme Climate Conditions

    Milakhina, N., Karpova, A., Astakhova, T. & Savostyanov, A., 30 июн. 2021, 2021 IEEE 22nd International Conference of Young Professionals in Electron Devices and Materials, EDM 2021 - Proceedings. IEEE Computer Society, стр. 577-581 5 стр. 9507608. (International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices, EDM; том 2021-June).

    Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференцийстатья в сборнике материалов конференциинаучнаяРецензирование

  7. Using Convolutional Neural Networks to Restore Audiosignals

    Morozova, K. & Rakitskiy, A., 30 июн. 2021, 2021 IEEE 22nd International Conference of Young Professionals in Electron Devices and Materials, EDM 2021 - Proceedings. IEEE Computer Society, стр. 524-527 4 стр. 9507633. (International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices, EDM; том 2021-June).

    Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференцийстатья в сборнике материалов конференциинаучнаяРецензирование

  8. Assessment of Residual Stresses in a T-joint Weld by Combined Experimental/Theoretical Approach

    Tagiltsev, I. I. & Shutov, A. V., 29 июн. 2021, в: Journal of Physics: Conference Series. 1945, 1, 012059.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатья по материалам конференцииРецензирование

  9. How Self-Appraisal Is Mediated by the Brain

    Knyazev, G. G., Savostyanov, A. N., Bocharov, A. V. & Rudych, P. D., 29 июн. 2021, в: Frontiers in Human Neuroscience. 15, 700046.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатьяРецензирование

  10. Invariant Procedure for Error Sensitivity Analysis Applied to Cyclic Creep Modelling

    Kaygorodtseva, A. A., Zakharchenko, K. V., Kapustin, V. I. & Shutov, A. V., 29 июн. 2021, в: Journal of Physics: Conference Series. 1945, 1, 012015.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатья по материалам конференцииРецензирование

  11. Nonlocal FEM Simulations of Ductile Damage with Regularized Crack Path Predictions

    Klyuchancev, V. S. & Shutov, A. V., 29 июн. 2021, в: Journal of Physics: Conference Series. 1945, 1, 012018.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатья по материалам конференцииРецензирование