Zeng, Q.,
Zhang, J.,
Chen, S.,
Xie, L.,
Huang, J.,
He, J.,
Pan, Y.,
Yu, J.,
Hu, Q.,
Amelina, E.,
Amelin, M. &
Feng, Y.,
2023,
Chinese Control Conference, CCC. Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.,
стр. 8015-8020 6 стр.Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › статья в сборнике материалов конференции › научная › Рецензирование