5751 - 5760 из 25 487Размер страницы: 10
Сортировать по:: Заголовок

  1. Elements of the Terahertz Power Reflective Optics with Free-Form Surfaces

    Agafonov, A. N., Knyazev, B. A., Pavel’ev, V. S., Akhmetova, E. I. & Platonov, V. I., 1 мар. 2019, в: Optoelectronics, Instrumentation and Data Processing. 55, 2, стр. 148-153 6 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  2. Elevated reaction order of 1,3,5-tri-tert-butylbenzene bromination as evidence of a clustered polybromide transition state: a combined kinetic and computational study

    Shernyukov, A. V., Genaev, A. M., Salnikov, G. E., Shubin, V. G. & Rzepa, H. S., 21 апр. 2019, в: Organic and Biomolecular Chemistry. 17, 15, стр. 3781-3789 9 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  3. Eleventh Dynasty Written Evidence on the Relationship between the κ and the Cult Image

    Demidchik, A. E., 1 июн. 2015, в: Zeitschrift fur Agyptische Sprache und Altertumskunde. 142, 1, стр. 25-32 8 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  4. Elimination of oxide films during Spark Plasma Sintering of metallic powders: A case study using partially oxidized nickel

    Dudina, D. V. & Bokhonov, B. B., 1 февр. 2017, в: Advanced Powder Technology. 28, 2, стр. 641-647 7 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  5. Ellipsometric In Situ Methods of Temperature Control in the Technology of Growing MBE MCT Layers

    Shvets, V. A., Marin, D. V., Azarov, I. A., Yakushev, M. V. & Rykhlitskii, S. V., сент. 2021, в: Optoelectronics, Instrumentation and Data Processing. 57, 5, стр. 476-484 9 стр., 5.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  6. Ellipsometric Method for Measuring the CdTe Buffer-Layer Temperature in the Molecular-Beam Epitaxy of CdHgTe

    Shvets, V. A., Azarov, I. A., Marin, D. V., Yakushev, M. V. & Rykhlitsky, S. V., 1 янв. 2019, в: Semiconductors. 53, 1, стр. 132-137 6 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  7. Ellipsometric Method of Substrate Temperature Measurement in Low-Temperature Processes of Epitaxy of InSb Layers

    Shvets, V. A., Azarov, I. A., Rykhlitskii, S. V. & Toropov, A. I., 1 янв. 2019, в: Optoelectronics, Instrumentation and Data Processing. 55, 1, стр. 8-15 8 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  8. Ellipsometric thermometry in molecular beam epitaxy of mercury cadmium telluride

    Marin, D. V., Shvets, V. A., Azarov, I. A., Yakushev, M. V. & Rykhlitskii, S. V., авг. 2021, в: Infrared Physics and Technology. 116, 103793.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  9. Ellipsometry, Raman spectroscopy and SOI- nanowire biosensor in diagnosis of colorectalcancer

    Kruchinina, M. V., Prudnikova, Y. I., Kurilovich, S. A., Gromov, A. A., Kruchinin, V. N., Atuchin, V. V., Naumova, O. V., Spesivtsev, E. V., Volodin, V. A., Peltek, S. E., Shuvalov, G. V. & Generalov, V. M., 2017, в: Siberian Journal of Oncology. 16, 4, стр. 32-41 10 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  10. Elliptic Flow of Charm and Strange Hadrons in High-Multiplicity p+Pb Collisions at sNN =8.16 TeV

    The CMS collaboration, 21 авг. 2018, в: Physical Review Letters. 121, 8, 18 стр., 082301.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Назад 1...572 573 574 575 576 577 578 579 ...2549 Далее