Способ изготовления эпоксидного связующего Т20-60-FRT22-М, предназначенного для применения в полимерных композиционных материалах авиационного назначения

Федоров, Н. А., Приходько, И. Ю. & Овсюк, И. Ю., 12 дек. 2025, Патент/Св-во № 137, 12 дек. 2025, Дата приоритета 12 дек. 2025

Результаты исследований: Патенты/Свидетельства о регистрации › свидетельство о регистрации ноу-хау

СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ДЛИНЫ РАСПРОСТРАНЕНИЯ ИНФРАКРАСНЫХ ПОВЕРХНОСТНЫХ ПЛАЗМОНОВ ПО РЕАЛЬНОЙ ПОВЕРХНОСТИ

Князев, Б. А., Никитин, А. К. & Жижин, Г. Н., 10 апр. 2014, IPC № G01N21/00, G01J3/45, Роспатент - Федеральная служба по интеллектуальной собственности, Патент/Св-во № 2512659, Дата приоритета 3 июл. 2012, № приоритета 2012128079

Результаты исследований: Патенты/Свидетельства о регистрации › патент на изобретение

СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ДЛЯ КОНТРОЛЯ ВОДОРОДА В ТВЕРДОТЕЛЬНОМ МАТЕРИАЛЕ

Володин, В. А., Камаев, Г. Н., Антоненко, А. Х. & Кошелев, Д. И., 20 окт. 2014, IPC № G01N21/65, H01L21/66, Роспатент - Федеральная служба по интеллектуальной собственности, Патент/Св-во № 2531081, Дата приоритета 18 июл. 2013, № приоритета 2013133496

Результаты исследований: Патенты/Свидетельства о регистрации › патент на изобретение

Способ измерения коэффициента поглощения оксида германия средствами ИК-спектроскопии

Володин, В. А. & Гейдт, П. В., 28 дек. 2024, Редакционно-издательский центр НГУ, Патент/Св-во № 123, 28 дек. 2024, Дата приоритета 28 дек. 2024

Результаты исследований: Патенты/Свидетельства о регистрации › свидетельство о регистрации ноу-хау

Способ измерения латерального размера литографического рисунка с помощью сканирующего зондового микроскопа.

Николаев, И. В. & Гейдт, П. В., 28 дек. 2024, Редакционно-издательский центр НГУ, Патент/Св-во № 125, 28 дек. 2024, Дата приоритета 28 дек. 2024

Результаты исследований: Патенты/Свидетельства о регистрации › свидетельство о регистрации ноу-хау

Способ измерения модуля упругости полистирола и других полимеров с помощью сканирующего зондового микроскопа

Николаев, И. В. & Гейдт, П. В., 28 дек. 2024, Редакционно-издательский центр НГУ, Патент/Св-во № 124, 28 дек. 2024, Дата приоритета 28 дек. 2024

Результаты исследований: Патенты/Свидетельства о регистрации › свидетельство о регистрации ноу-хау

Способ измерения параметров элементарной ячейки кристаллов на установках, использующих 2D-детекторы

Громилов, С. А. & Серебренникова, П. С., 3 мар. 2026, Роспатент - Федеральная служба по интеллектуальной собственности, Патент/Св-во № 2857482, 14 окт. 2025, Дата приоритета 14 окт. 2025, № приоритета 2025128042

Результаты исследований: Патенты/Свидетельства о регистрации › патент на изобретение

Способ измерения пространственно-временной эволюции излучения

Чуркин, Д. В., Хорев, С. В. & Ватник, И. Д., 4 апр. 2018, IPC № G01R23/00, Роспатент - Федеральная служба по интеллектуальной собственности, Патент/Св-во № 2649643, Дата приоритета 30 дек. 2016, № приоритета 2016152835

Результаты исследований: Патенты/Свидетельства о регистрации › патент на изобретение

Способ измерения профиля торца оптического волокна возбуждением аксиальных мод шепчущей галереи и расстояния от точки возбуждения до торца (варианты)

Чуркин, Д. В., Хорев, С. В., Ватник, И. Д. & Хань, Ч., 21 авг. 2019, IPC № G01M11/02, G02B6/24, Роспатент - Федеральная служба по интеллектуальной собственности, Патент/Св-во № 2697921, Дата приоритета 29 дек. 2018, № приоритета 2018147766

Результаты исследований: Патенты/Свидетельства о регистрации › патент на изобретение

Способ измерения пьезокоэффициента в пьезоактивных пленках с помощью сканирующего зондового микроскопа

Николаев, И. В. & Гейдт, П. В., 12 дек. 2025, Патент/Св-во № 144, 12 дек. 2025, Дата приоритета 12 дек. 2025

Результаты исследований: Патенты/Свидетельства о регистрации › свидетельство о регистрации ноу-хау