2011 - 2020 из 29 195Размер страницы: 10
Сортировать по:: Заголовок

  1. Atomic condensate in an optical trap formed by a cavity mode

    Il’ichev, L. V., 1 июл. 2017, в: JETP Letters. 106, 1, стр. 12-17 6 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  2. Atomic Force Microscopy Local Oxidation of GeO Thin Films

    Astankova, K. N., Kozhukhov, A. S., Gorokhov, E. B., Azarov, I. A. & Latyshev, A. V., 1 дек. 2018, в: Semiconductors. 52, 16, стр. 2081-2084 4 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  3. Atomic Layer Deposition Synthesis of thin Films of Vanadium Oxides in a Reducing Hydrogen Atmosphere

    Voloshin, B. V., Seleznev, V. A. & Golyashov, V. A., окт. 2024, в: Journal of Structural Chemistry. 65, 10, стр. 2073-2087 15 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  4. Atomic-motion-induced spectroscopic effects that are nonlinear in atomic density in a gas

    Yudin, V. I., Taichenachev, A. V., Basalaev, M. Y. U., Prudnikov, O. N. & Bagayev, S. N., июл. 2022, в: Journal of the Optical Society of America B: Optical Physics. 39, 7, стр. 1979-1985 7 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  5. Atomic Processes on the Silicon Surface

    Latyshev, A. V., Fedina, L. I., Kosolobov, S. S., Sitnikov, S. V., Rogilo, D. I., Rodyakina, E. E., Nasimov, D. A., Sheglov, D. V. & Aseev, A. L., 1 янв. 2017, Advances in Semiconductor Nanostructures: Growth, Characterization, Properties and Applications. Latyshev, AV., Dvurechenskii, AV. & Aseev, AL. (ред.). Elsevier Science Publishing Company, Inc., стр. 189-221 33 стр. (Advances in Semiconductor Nanostructures: Growth, Characterization, Properties and Applications).

    Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › глава/раздел › научная › Рецензирование

  6. Atomic processes with twisted electrons

    Zaytsev, V. A., Surzhykov, A., Serbo, V. G., Kosheleva, V. P., Groshev, M. E., Yerokhin, V. A., Shabaev, V. M. & Stöhlker, T., 1 янв. 2020, в: Journal of Physics: Conference Series. 1412, 5, 8 стр., 052013.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья по материалам конференции › Рецензирование

  7. Atomic Rearrangements and Photoemission Processes at a p-GaN(Cs)–Vacuum Interface

    Bakin, V. V., Kosolobov, S. N., Rozhkov, S. A., Scheibler, H. E. & Terekhov, A. S., 1 авг. 2018, в: JETP Letters. 108, 3, стр. 180-184 5 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  8. Atomic scale structural defects in the graphite layer for model catalysis

    Nartova, A. V., Bukhtiyarov, A. V., Kvon, R. I., Makarov, E. M., Prosvirin, I. P. & Bukhtiyarov, V. I., 1 нояб. 2018, в: Surface Science. 677, стр. 90-92 3 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  9. Atomic screening and e+e− pair photoproduction at low energies

    Krachkov, P. A. & Milstein, A. I., 10 нояб. 2023, в: Physics Letters, Section B: Nuclear, Elementary Particle and High-Energy Physics. 846, 5 стр., 138224.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  10. Atomic spectroscopy in periodic fields

    Yudin, V. I., Yu Basalaev, M. & Taichenachev, A. V., 16 февр. 2017, в: Journal of Physics: Conference Series. 793, 1, 3 стр., 012033.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Назад 1...198 199 200 201 202 203 204 205 ...2920 Далее