1861 - 1870 из 25 910Размер страницы: 10
Сортировать по:: Заголовок

  1. Atomic Processes on the Silicon Surface

    Latyshev, A. V., Fedina, L. I., Kosolobov, S. S., Sitnikov, S. V., Rogilo, D. I., Rodyakina, E. E., Nasimov, D. A., Sheglov, D. V. & Aseev, A. L., 1 янв. 2017, Advances in Semiconductor Nanostructures: Growth, Characterization, Properties and Applications. Latyshev, AV., Dvurechenskii, AV. & Aseev, AL. (ред.). Elsevier Science Publishing Company, Inc., стр. 189-221 33 стр.

    Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › глава/раздел › научная › Рецензирование

  2. Atomic processes with twisted electrons

    Zaytsev, V. A., Surzhykov, A., Serbo, V. G., Kosheleva, V. P., Groshev, M. E., Yerokhin, V. A., Shabaev, V. M. & Stöhlker, T., 1 янв. 2020, в: Journal of Physics: Conference Series. 1412, 5, 8 стр., 052013.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья по материалам конференции › Рецензирование

  3. Atomic Rearrangements and Photoemission Processes at a p-GaN(Cs)–Vacuum Interface

    Bakin, V. V., Kosolobov, S. N., Rozhkov, S. A., Scheibler, H. E. & Terekhov, A. S., 1 авг. 2018, в: JETP Letters. 108, 3, стр. 180-184 5 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  4. Atomic scale structural defects in the graphite layer for model catalysis

    Nartova, A. V., Bukhtiyarov, A. V., Kvon, R. I., Makarov, E. M., Prosvirin, I. P. & Bukhtiyarov, V. I., 1 нояб. 2018, в: Surface Science. 677, стр. 90-92 3 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  5. Atomic screening and e+e− pair photoproduction at low energies

    Krachkov, P. A. & Milstein, A. I., 10 нояб. 2023, в: Physics Letters, Section B: Nuclear, Elementary Particle and High-Energy Physics. 846, 5 стр., 138224.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  6. Atomic spectroscopy in periodic fields

    Yudin, V. I., Yu Basalaev, M. & Taichenachev, A. V., 16 февр. 2017, в: Journal of Physics: Conference Series. 793, 1, 3 стр., 012033.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  7. Atomic Structure and Optical Properties of CaSi2 Layers Grown on CaF2/Si Substrates

    Zinovyev, V. A., Kacyuba, A. V., Volodin, V. A., Zinovieva, A. F., Cherkova, S. G., Smagina, Z. V., Dvurechenskii, A. V., Krupin, A. Y., Borodavchenko, O. M., Zhivulko, V. D. & Mudryi, A. V., окт. 2021, в: Semiconductors. 55, 10, стр. 808-811 4 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  8. Atomic Structure and Optical Properties of Plasma Enhanced Chemical Vapor Deposited SiCOH Low-k Dielectric Film

    Kruchinin, V. N., Volodin, V. A., Rykhlitskii, S. V., Gritsenko, V. A., Posvirin, I. P., Shi, X. & Baklanov, M. R., июн. 2021, в: Optics and Spectroscopy. 129, 6, стр. 645-651 7 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  9. Atomic structure of high Miller index Si(47 35 7) surface

    Zhachuk, R. A., Dolbak, A. E. & Shklyaev, A. A., мар. 2020, в: Surface Science. 693, 5 стр., 121549.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  10. Atomic Structure of Semiconductor Low-Dimensional Heterosystems

    Gutakovskii, A. K., Latyshev, A. V. & Aseev, A. L., 1 янв. 2017, Advances in Semiconductor Nanostructures: Growth, Characterization, Properties and Applications. Latyshev, AV., Dvurechenskii, AV. & Aseev, AL. (ред.). Elsevier Science Publishing Company, Inc., стр. 223-253 31 стр.

    Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › глава/раздел › научная › Рецензирование

Назад 1...183 184 185 186 187 188 189 190 ...2591 Далее