1. 2021
  2. Assessment of Residual Stresses in a T-joint Weld by Combined Experimental/Theoretical Approach

    Tagiltsev, I. I. & Shutov, A. V., 29 июн. 2021, в: Journal of Physics: Conference Series. 1945, 1, 012059.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья по материалам конференции › Рецензирование

  3. How Self-Appraisal Is Mediated by the Brain

    Knyazev, G. G., Savostyanov, A. N., Bocharov, A. V. & Rudych, P. D., 29 июн. 2021, в: Frontiers in Human Neuroscience. 15, 700046.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  4. Invariant Procedure for Error Sensitivity Analysis Applied to Cyclic Creep Modelling

    Kaygorodtseva, A. A., Zakharchenko, K. V., Kapustin, V. I. & Shutov, A. V., 29 июн. 2021, в: Journal of Physics: Conference Series. 1945, 1, 012015.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья по материалам конференции › Рецензирование

  5. Nonlocal FEM Simulations of Ductile Damage with Regularized Crack Path Predictions

    Klyuchancev, V. S. & Shutov, A. V., 29 июн. 2021, в: Journal of Physics: Conference Series. 1945, 1, 012018.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья по материалам конференции › Рецензирование

  6. Application of the Metric Learning for Security Incident Playbook Recommendation

    Kraeva, I. & Yakhyaeva, G., 30 июн. 2021, 2021 IEEE 22nd International Conference of Young Professionals in Electron Devices and Materials, EDM 2021 - Proceedings. IEEE Computer Society, стр. 475-479 5 стр. 9507632. (International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices, EDM; том 2021-June).

    Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › статья в сборнике материалов конференции › научная › Рецензирование

  7. A System for Visualizing the Three-Dimensional Spherical and Elliptic Spaces

    Migranov, D., 30 июн. 2021, 2021 IEEE 22nd International Conference of Young Professionals in Electron Devices and Materials, EDM 2021 - Proceedings. IEEE Computer Society, стр. 507-510 4 стр. 9507602. (International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices, EDM; том 2021-June).

    Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › статья в сборнике материалов конференции › научная › Рецензирование

  8. Development of an Application for Audio-Visual-Tactile Brainwave Entrainment in Patients with Affective and Psychosomatic Disorders

    Korshunov, V. A., Khazankin, G. R. & Ivanishkin, D. S., 30 июн. 2021, 2021 IEEE 22nd International Conference of Young Professionals in Electron Devices and Materials, EDM 2021 - Proceedings. IEEE Computer Society, стр. 551-554 4 стр. 9507617. (International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices, EDM; том 2021-June).

    Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › статья в сборнике материалов конференции › научная › Рецензирование

  9. Development of Automated Methods for the Domain Ontology Population with the Help of a Virtual Assistant

    Orlovsky, A. & Palchunov, D., 30 июн. 2021, 2021 IEEE 22nd International Conference of Young Professionals in Electron Devices and Materials, EDM 2021 - Proceedings. IEEE Computer Society, стр. 537-541 5 стр. 9507641. (International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices, EDM; том 2021-June).

    Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › статья в сборнике материалов конференции › научная › Рецензирование

  10. EEG Data Preprocessing for Assessing the Degree of Connectivity of Areas of the Human Brain under Resting Conditions and their Application to the Diagnosis of Socially Significant Diseases

    Zavarzin, E., Milakhina, N., Rudych, P. & Savostyanov, A., 30 июн. 2021, 2021 IEEE 22nd International Conference of Young Professionals in Electron Devices and Materials, EDM 2021 - Proceedings. IEEE Computer Society, стр. 582-585 4 стр. 9507667. (International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices, EDM; том 2021-June).

    Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › статья в сборнике материалов конференции › научная › Рецензирование

  11. Eight-Channel Polychromator for Spectral Measurements in the Frequency Band of 0.1-0.6 THz

    Arzhannikov, A. V., Ivanov, I. A., Kuznetsov, S. A., Samtsov, D. A., Lazorskiy, P. A. & Gelfand, A. V., 30 июн. 2021, 2021 IEEE 22nd International Conference of Young Professionals in Electron Devices and Materials, EDM 2021 - Proceedings. IEEE Computer Society, стр. 101-105 5 стр. 9507604. (International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices, EDM; том 2021-June).

    Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › статья в сборнике материалов конференции › научная › Рецензирование