1 - 2 из 2Размер страницы: 10
Сортировать по:: Заголовок

  1. Методы определения толщины и элементарного состава тонких слоев, облучаемых пучком ионов, при измерении сечений ядерных реакций

    Бикчурина, М. И., Асанов, И. П., Быков, Т. А., Касатов, Д. А., Колесников, Я. А., Николаев, А. Г., Окс, Е. М., Остреинов, Г. М., Савинов, С. С., Соколова, Е. О., Трубина, С. В., Шуклина, А. А., Юшков, Г. Ю. & Таскаев, С. Ю., 2025, в: Письма в журнал "Физика элементарных частиц и атомного ядра" . 22, 4 (261), стр. 539-546

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  2. Methods for Determining the Thickness and Elemental Composition of Thin Layers Irradiated by an Ion Beam in Measuring Nuclear Reaction Cross-Sections

    Bikchurina, M. I., Asanov, I. P., Bykov, T. A., Kasatov, D. A., Kolesnikov, Y. A., Nikolaev, A. G., Oks, E. M., Ostreinov, G. M., Savinov, S. S., Sokolova, E. O., Trubina, S. V., Shuklina, A. A., Yushkov, G. Y. & Taskaev, S. Y., 11 авг. 2025, в: Physics of Particles and Nuclei Letters. 22, 4, стр. 636-640 5 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

ID: 34623874