1 - 4 из 4Размер страницы: 50
Сортировать по:: Год публикации
  1. 2025

  2. Semi-Automated Framework for Feature Engineering in Machine Learning and Data Analysis

    Radeev, N. & Vinogradova, K., 8 авг. 2025, International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices, EDM. IEEE Computer Society, стр. 1520-1525 6 стр. (International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices, EDM).

    Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › статья в сборнике материалов конференции › научная › Рецензирование

  3. 2023

  4. Программный комплекс для конструирования числовых признаков методами понижения размерности

    Радеев, Н. А., 31 янв. 2023, Роспатент - Федеральная служба по интеллектуальной собственности, Патент/Св-во № 2023612189, Дата приоритета 27 янв. 2023, № приоритета 2023611249

    Результаты исследований: Патенты/Свидетельства о регистрации › свидетельство о регистрации программы для ЭВМ

  5. Approach to Research Feature Interactions

    Radeev, N. A., 2023, 24th IEEE International Conference of Young Professionals in Electron Devices and Materials, EDM 2023; Novosibirsk; Russian Federation; 29 June 2023 до 3 July 2023. Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc., стр. 1720-1724 5 стр.

    Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › статья в сборнике материалов конференции › научная › Рецензирование

  6. 2021

  7. Neural networks for classification problem on tabular data

    Nazdryukhin, A. S., Fedrak, A. M. & Radeev, N. A., 14 дек. 2021, в: Journal of Physics: Conference Series. 2142, 1, 012013.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья по материалам конференции › Рецензирование

ID: 3527405