1. 2024
  2. Principles of Measuring Thickness and Refractive Index of Thin Dielectric Film by Using Multiresonance Archimedean Spiral Metasurfaces with C Resonator in the Terahertz Frequency Range

    Kameshkov, O. & Gerasimov, V., июн. 2024, в: Photonics. 11, 6, 529.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданияхстатьяРецензирование

Назад 1 2 3 4 Далее

ID: 3549611