Charge Transport in MIS Structures ITO/[GeOx](z)[SiO2](1–z)/Si

Yushkov, I., Gismatulin, A., Kamaev, G., Vergnat, M. & Volodin, V. A., дек. 2025, в: Russian Microelectronics. 54, 8, стр. 842-847 6 стр.

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Determining the Depth of Penetration of the THz Surface Plasmon Polariton Field into Air by the Shielding Technique

Kukotenko, V. D., Gerasimov, V. V., Vanda, V. S., Lemzyakov, A. G., Azarov, I. A. & Nikitin, A., дек. 2025, в: Plasmonics. 20, 12, стр. 11461-11469 9 стр., 1.

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Development of a Hardware-Software Complex for a Terahertz Plasmonic Michelson Interferometer for Experiments at the Novosibirsk Free Electron Laser

Краснопевцев, С. Е. & Герасимов, В. В., дек. 2025, в: Instruments and Experimental Techniques. 68, 6, стр. 1001-1014 14 стр.

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Enhancing the Accuracy of Digital Holography Based Mode Decomposition Method

Gervaziev, M. D., Revyakin, A. A., Kharenko, D. S. & Babin, S. A., дек. 2025, в: Bulletin of the Lebedev Physics Institute. 52, Suppl 11, стр. S1188-S1195 8 стр., 9.

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

FARICH construction optimization for the Super C-Tau Factory

Anisimov, I. I., Barnyakov, A. Y., Bobrovnikov, V. S., Buzykaev, A. R., Chepelev, A. V., Efremov, R. A., Danilyuk, A. F., Katcin, A. A., Kopotilov, A. V., Kravchenko, E. A., Kuyanov, I. A., Ofitserov, A. D., Ovtin, I. V., Petrukhin, K. G., Rozhkov, S. A., Rusetsky, V. S., Savenkov, D. K. & Zhizhin, A. A., дек. 2025, в: Journal of University of Science and Technology of China. 55, 12, 6 стр., 1206.

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Investigation of the Conduction Type of Nonstoichiometric Germanosilicate Glass Films

Hamoud, G. A., Kamaev, G. N., Vergnat, M. & Volodin, V. A., дек. 2025, в: Russian Microelectronics. 54, 8, стр. 1088-1096 9 стр.

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Investigation of the process carbon dioxide hydrate formation in a colloidal solution containing AL2O3 nanoparticles and sodium dodecyl sulfate

Meleshkin, A. V., Marasanov, N. V., Knyazkov, V. A. & Klimov, B. A., дек. 2025, в: Interfacial Phenomena and Heat Transfer. 13, 4, стр. 41-50 10 стр., 3.

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Investigation of the Temperature and Electrically Initiated Phase Transition in Vanadium Dioxide by Ellipsometry Methods

Kapoguzov, K. E., Kalinina, V. B., Azarov, I. A., Gayduk, A. E., Kichay, V. N., Yakovkina, L. V. & Mutilin, S. V., дек. 2025, в: Optoelectronics, Instrumentation and Data Processing. 61, 6, стр. 696-704 9 стр.

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Measurement of the Neutron Timelike Formfactors Ratio GE/GM near the Threshold

Achasov, M. N., Barnyakov, A. Y., Bedarev, E. V., Beloborodov, K. I., Berdyugin, A. V., Bogdanchikov, A. G., Botov, A. A., Chistyakov, D. E., Dimova, T. V., Druzhinin, V. P., Zhabin, V. N., Kardapoltsev, L. V., Kasaev, A. S., Kattsin, A. A., Koop, I. A., Kovrizhin, D. P., Korol, A. A., Kupich, A. S., Kryukov, A. P., Lysenko, A. P., еще 15Melnikova, N. A., Muchnoy, N. Y., Obrazovsky, A. E., Pakhtusova, E. V., Pugachev, K. V., Rastigeev, S. A., Rogovsky, Y. A., Senchenko, A. I., Serednyakov, S. I., Silagadze, Z. K., Surin, I. K., Usov, Y. V., Kharlamov, A. G., Shtol, D. A. & Zharinov, Y. M., дек. 2025, в: Moscow University Physics Bulletin. 80, Suppl 2, стр. S730-S735 6 стр.

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

Modulation of THz Radiation Based on Semiconductor–Metal Phase Transition in Vanadium Dioxide

Bortnikov, S. G., Gerasimov, V. V. & Dmitriev, D. V., дек. 2025, в: Optoelectronics, Instrumentation and Data Processing. 61, 6, стр. 689-695 7 стр.

Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование