311 - 320 из 321Размер страницы: 10
Сортировать по:: Год публикации
  1. 2025

  2. Nonlinear Elasticity Problems on Carnot Groups and Quasiconformal Analysis

    Vodopyanov, S. K. & Pavlov, S. V., 2 июн. 2025, в: Siberian Mathematical Journal. 66, 3, стр. 672-690 19 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  3. Планирование траектории полета БПЛА при мониторинге большой области

    Rodionov, A. & Matkurbanov, T., 25 июн. 2025, в: Informatics and Automation. 24, 3, стр. 791-827 37 стр., 3.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  4. Potential Locations for Deploying the Full-Scale TAIGA-100 Gamma Ray Observatory

    TAIGA Collaboration, 15 июл. 2025, в: Bulletin of the Russian Academy of Sciences: Physics. 89, 6, стр. 884-888 5 стр.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  5. Transcriptomic Profile of the Trastuzumab-Resistant Breast Cancer Cell Line BT-474

    Shifon, S. A., Karpets, I. O., Chesnokova, A. S., Karitskaya, P. E., Ukladov, E. O., Evgenov, I. V., Sidorov, S. V. & Gulyaeva, L. F., авг. 2025, в: Molecular Biology. 59, 4, стр. 508-521 14 стр., 4.

    Результаты исследований: Научные публикации в периодических изданиях › статья › Рецензирование

  6. Development of a Personalized Recommendation System with High Data Protection

    Palchunova, O., 8 авг. 2025, International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices, EDM. IEEE Computer Society, стр. 1830-1833 4 стр. (International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices, EDM).

    Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › статья в сборнике материалов конференции › научная › Рецензирование

  7. Prediction of Anxiety Levels Based on Spatial-Frequency Patterns of EEG Activity During Perception of Another Person's Face

    Lozhnikov, V., 8 авг. 2025, International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices, EDM. IEEE Computer Society, стр. 1850-1853 4 стр. (International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices, EDM).

    Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › статья в сборнике материалов конференции › научная › Рецензирование

  8. Semi-Automated Framework for Feature Engineering in Machine Learning and Data Analysis

    Radeev, N. & Vinogradova, K., 8 авг. 2025, International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices, EDM. IEEE Computer Society, стр. 1520-1525 6 стр. (International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices, EDM).

    Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › статья в сборнике материалов конференции › научная › Рецензирование

  9. Towards Verification Reflex Programs in the Rodin Platform

    Shabanova, M. & Garanina, N., 8 авг. 2025, International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices, EDM. IEEE Computer Society, стр. 1490-1495 6 стр. (International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices, EDM).

    Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › статья в сборнике материалов конференции › научная › Рецензирование

  10. Using Algorithmic Complexity Metrics for Process-Oriented Specifications

    Abramenko, A. & Zyubin, V., 8 авг. 2025, International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices, EDM. IEEE Computer Society, стр. 1430-1434 5 стр. (International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices, EDM).

    Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › статья в сборнике материалов конференции › научная › Рецензирование

  11. Verification Condition Generator for Revised Reflex Language Using Isabelle/HOL

    Ищенко, А. Д. & Ануреев, И. С., 8 авг. 2025, International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices, EDM. IEEE Computer Society, стр. 1440-1445 6 стр. (International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices, EDM).

    Результаты исследований: Публикации в книгах, отчётах, сборниках, трудах конференций › статья в сборнике материалов конференции › научная › Рецензирование

Назад 1...28 29 30 31 32 33 Далее

ID: 3086172