1 - 1 out of 1Page size: 10
  1. 2025

  2. Контроль формирования слоев графена на подложках 6H-SiC(0001) методом in situ дифракции быстрых электронов на отражение

    Дураков, Д. Е., Петров, А. С., Рогило, Д. И., Макеева, А. А., Насимов, Д. А., Никифоров, Д. Ф., Курусь, Н. Н., Милёхин, А. Г., Щеглов, Д. В. & Латышев, А. В., 2025, In: Физика и техника полупроводников. 59, 2, p. 102-108

    Research output: Contribution to journal › Article › peer-review

ID: 60475907