1 - 2 out of 2Page size: 10
Sort by: Title

  1. Методы определения толщины и элементарного состава тонких слоев, облучаемых пучком ионов, при измерении сечений ядерных реакций

    Бикчурина, М. И., Асанов, И. П., Быков, Т. А., Касатов, Д. А., Колесников, Я. А., Николаев, А. Г., Окс, Е. М., Остреинов, Г. М., Савинов, С. С., Соколова, Е. О., Трубина, С. В., Шуклина, А. А., Юшков, Г. Ю. & Таскаев, С. Ю., 2025, In: Письма в журнал "Физика элементарных частиц и атомного ядра" . 22, 4 (261), p. 539-546

    Research output: Contribution to journal › Article › peer-review

  2. Methods for Determining the Thickness and Elemental Composition of Thin Layers Irradiated by an Ion Beam in Measuring Nuclear Reaction Cross-Sections

    Bikchurina, M. I., Asanov, I. P., Bykov, T. A., Kasatov, D. A., Kolesnikov, Y. A., Nikolaev, A. G., Oks, E. M., Ostreinov, G. M., Savinov, S. S., Sokolova, E. O., Trubina, S. V., Shuklina, A. A., Yushkov, G. Y. & Taskaev, S. Y., 11 Aug 2025, In: Physics of Particles and Nuclei Letters. 22, 4, p. 636-640 5 p.

    Research output: Contribution to journal › Article › peer-review

ID: 34623874